摘要 | 第1-5页 |
Abstract(英文摘要) | 第5-7页 |
目录 | 第7-11页 |
第一章 引言 | 第11-23页 |
·极化电子束的应用 | 第11-15页 |
·在原子分子物理研究中的应用 | 第11-13页 |
·在生物手征性分子和生命科学研究中的应用 | 第13-14页 |
·在固体表面物理和材料科学研究中的应用 | 第14-15页 |
·在高能物理和核物理研究中的应用 | 第15页 |
·极化电子源的发展与现状 | 第15-18页 |
·极化度测量仪的发展与现状 | 第18-20页 |
·论文工作意义及内容 | 第20-23页 |
第二章 GaAs极化电子源概述 | 第23-41页 |
·电子束极化度理论 | 第23-28页 |
·极化电子源及其电子光学特性参数分析 | 第28-30页 |
·GaAs极化电子源工作原理 | 第30-34页 |
·GaAs晶体导带自旋极化电子的产生 | 第30-31页 |
·极化电子在GaAs晶体中的传输、逃逸和去极化效应 | 第31-32页 |
·负电子亲和势及其获得方法 | 第32-34页 |
·提高电子束极化度的方法研究 | 第34-41页 |
·应变GaAs光阴极 | 第35-38页 |
·超晶格GaAs光阴极 | 第38-41页 |
第三章 GaAs极化电子源实验装置研制 | 第41-68页 |
·装置总述 | 第41-46页 |
·GaAs极化电子源装置研制难点分析 | 第46-47页 |
·真空机械系统 | 第47-50页 |
·GaAs类光阴极及其加热测温系统 | 第50-51页 |
·O_2和Cs供给系统 | 第51-54页 |
·820nm激光及其圆偏振光的获得 | 第54-59页 |
·电子光学系统 | 第59-65页 |
·磁屏蔽系统 | 第65-67页 |
·实验控制系统 | 第67-68页 |
第四章 GaAs极化电子源激活过程实验研究 | 第68-90页 |
·超高真空系统的获得 | 第68-70页 |
·GaAs晶片的化学清洗和热清洗 | 第70-72页 |
·化学清洗 | 第70-71页 |
·热清洗 | 第71-72页 |
·激活过程实验研究 | 第72-81页 |
·Yo-yo激活过程 | 第74-77页 |
·复合激活过程 | 第77-80页 |
·两种激活过程比较 | 第80-81页 |
·获得长寿命稳定极化束流的实验研究 | 第81-90页 |
第五章 电子束极化度测量仪的研制 | 第90-119页 |
·极化度测量仪发展概述 | 第90-95页 |
·Mott极化仪 | 第90-92页 |
·基于光学Stokes参数测量的极化仪 | 第92-94页 |
·两种极化仪的比较 | 第94-95页 |
·电子束极化度测量原理及其实验方法 | 第95-105页 |
·电子束极化度测量原理 | 第95-97页 |
·电子束极化度测量物理图像 | 第97-99页 |
·电子束极化度测量实验方法 | 第99-105页 |
·偏转片偏转方向物理零点的校准 | 第100-102页 |
·相位延迟片快轴方向物理零点的校准 | 第102-104页 |
·电子束极化度的测量 | 第104-105页 |
·电子束极化度测量仪系统的实现 | 第105-119页 |
·辐射光子探测可行性分析 | 第107-108页 |
·真空机械系统 | 第108-109页 |
·辐射荧光Stokes参数分析系统及光电倍增管 | 第109-110页 |
·数据获取电子学及实验控制系统 | 第110-116页 |
·脉冲放大甄别 | 第111-112页 |
·数据获取及实验控制系统 | 第112-116页 |
·EISA接口卡 | 第116页 |
·数据采集与处理软件系统 | 第116-118页 |
·电子束极化度测量仪系统总结 | 第118-119页 |
第六章 弱光相对Stokes参数测量实验 | 第119-130页 |
·实验思想 | 第119-121页 |
·线偏振弱光相对Stokes参数测量 | 第121-126页 |
·偏振片偏振方向物理零点校准 | 第121-123页 |
·相位延迟片快轴方向物理零点校准 | 第123-125页 |
·相对Stokes参数测量 | 第125-126页 |
·椭圆偏振弱光相对Stokes参数测量 | 第126-128页 |
·实验总结 | 第128-130页 |
第七章 论文工作总结 | 第130-133页 |
参考文献 | 第133-140页 |
致谢 | 第140-141页 |
个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第141-142页 |