单元测试技术研究与应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-11页 |
| ·论文主要研究内容及安排 | 第11-12页 |
| 第二章 框架与模式 | 第12-20页 |
| ·框架的概念 | 第12-15页 |
| ·框架的定义 | 第12-13页 |
| ·框架的分类 | 第13-14页 |
| ·框架的特点 | 第14-15页 |
| ·冰点与热点 | 第15页 |
| ·框架的开发方法 | 第15-16页 |
| ·与框架相关的概念 | 第16-17页 |
| ·白盒框架与黑盒框架 | 第16-17页 |
| ·食谱以及好莱坞原则 | 第17页 |
| ·模式的概念 | 第17-18页 |
| ·框架与设计模式的关系 | 第18-19页 |
| ·设计模式与框架的区别 | 第18-19页 |
| ·设计模式与框架的联系 | 第19页 |
| ·小结 | 第19-20页 |
| 第三章 CTest的框架与结构 | 第20-33页 |
| ·CTest的来源 | 第20页 |
| ·CTest中宏的结构 | 第20-25页 |
| ·封装技术 | 第20-21页 |
| ·变量的替换 | 第21页 |
| ·虚函数表 | 第21-23页 |
| ·Assert断言 | 第23-24页 |
| ·Assert断言中函数的封装 | 第24-25页 |
| ·CTest框架对自身的测试 | 第25-28页 |
| ·对cxt_string文件中函数的测试 | 第26页 |
| ·对cxt_testcase文件中函数的测试 | 第26-27页 |
| ·对cxt_assert文件中函数的测试 | 第27-28页 |
| ·对库函数文件stdlib的测试 | 第28页 |
| ·CTest测试中涉及的数据结构 | 第28-31页 |
| ·ITestSuite结构 | 第28-29页 |
| ·ITestBaseList结构 | 第29页 |
| ·ITestVec结构 | 第29-30页 |
| ·ITestListenerList结构 | 第30页 |
| ·ITestFailureList结构 | 第30页 |
| ·ITestRunner结构 | 第30-31页 |
| ·测试框架运行流程 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第四章 单元测试的应用 | 第33-45页 |
| ·嵌入式平台上的应用 | 第34-42页 |
| ·嵌入式平台软件的特点 | 第34-35页 |
| ·嵌入式处理器 | 第35-37页 |
| ·目标平台介绍 | 第37页 |
| ·单元测试在DM6437板上的应用 | 第37-42页 |
| ·Windows平台上的应用 | 第42-43页 |
| ·使用工具介绍 | 第42页 |
| ·单元测试在VC6.0中的应用 | 第42-43页 |
| ·查看测试结果 | 第43页 |
| ·小结 | 第43-45页 |
| 第五章 测试用例的编写与应用结果检验 | 第45-54页 |
| ·软件测试用例的概念 | 第45页 |
| ·测试用例是软件测试的核心 | 第45-46页 |
| ·测试用例的意义 | 第46页 |
| ·测试用例设计生成的基本准则 | 第46页 |
| ·测试层次划分 | 第46-47页 |
| ·测试用例中其他重要概念 | 第47-50页 |
| ·功能性测试用例与结构性测试用例设计 | 第47-48页 |
| ·测试用例设计的误区 | 第48-49页 |
| ·用例评审 | 第49-50页 |
| ·CTest框架中测试用例的编写 | 第50-52页 |
| ·测试用例的运行与结果检验 | 第52-53页 |
| ·被测函数正确情况下的打印结果 | 第52-53页 |
| ·被测函数错误情况下的打印结果 | 第53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第六章 总结与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
