| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章绪论 | 第10-19页 |
| ·课题的来源、目的及意义 | 第10页 |
| ·科学级CCD相机的发展现状 | 第10-13页 |
| ·科学级CCD相机的构成及成像原理 | 第11-12页 |
| ·科学级CCD相机的成像特点 | 第12-13页 |
| ·图像处理技术的发展状况 | 第13-17页 |
| ·图像处理的内容 | 第13-14页 |
| ·图像处理的应用 | 第14-15页 |
| ·图像处理在 X 射线无损检测中的发展与应用 | 第15-17页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第17-19页 |
| 第二章 基于科学级CCD相机X射线成像系统的组成及原理 | 第19-34页 |
| ·X射线检测的基本原理 | 第19-21页 |
| ·X射线成像系统性能的评价方法 | 第21-25页 |
| ·透度灵敏度 | 第21-23页 |
| ·空间分辨率 | 第23-25页 |
| ·基于科学级 CCD 相机 X 射线成像系统的硬件组成与主要技术要求 | 第25-30页 |
| ·科学级 CCD 相机概述及选择确定 | 第26-28页 |
| ·X 射线转换屏概述及选择确定 | 第28-30页 |
| ·X 射线源概述及选择确定 | 第30页 |
| ·系统中软件部分的总体设计思路 | 第30-34页 |
| ·软件系统设计总体框架 | 第31-32页 |
| ·软件开发工具的选取及其优势 | 第32-33页 |
| ·系统软件主界面 | 第33-34页 |
| 第三章 X射线数字成像系统不均匀性分析与校正 | 第34-40页 |
| ·X射线数字成像系统不均匀性分析 | 第34-37页 |
| ·射线源强度分布的不均匀 | 第34-35页 |
| ·射线转换屏的不均性 | 第35页 |
| ·光学系统渐晕效应 | 第35页 |
| ·科学级CCD相机不一致性分析 | 第35-37页 |
| ·随机噪声与散射线对CCD造成的噪声影响 | 第37页 |
| ·系统不均匀性校正方法研究 | 第37-39页 |
| ·首先考虑随机噪声 | 第37-38页 |
| ·CCD暗电流不一致性校正 | 第38页 |
| ·CCD 光响应不均匀性的校正矩阵 | 第38页 |
| ·其他因素合并校正 | 第38-39页 |
| ·系统校正公式与实验结果 | 第39-40页 |
| 第四章 X射线数字图像预处理方法研究 | 第40-60页 |
| ·X射线检测系统常见噪声分析 | 第40-41页 |
| ·常见的图像增强算法 | 第41-51页 |
| ·空间域图像增强 | 第41-50页 |
| ·灰度变换增强 | 第42-46页 |
| ·直方图均衡化 | 第46-49页 |
| ·同态滤波 | 第49-50页 |
| ·频域图像增强 | 第50-51页 |
| ·Retinex图像增强算法研究与实现 | 第51-60页 |
| ·问题的提出 | 第51页 |
| ·Retinex算法简介 | 第51-55页 |
| ·单尺度Retinex算法 | 第52-53页 |
| ·多尺度Retinex算法 | 第53-54页 |
| ·Retinex可变框架模型算法 | 第54-55页 |
| ·改进的Retinex可变框架模型算法实现 | 第55-57页 |
| ·运算结果及分析 | 第57-60页 |
| 第五章 X射线数字图像缺陷的分割 | 第60-72页 |
| ·常见的焊缝缺陷成因及图像特征分析 | 第60-62页 |
| ·常见的图像分割方法 | 第62-68页 |
| ·基于边缘检测的分割方法 | 第62-66页 |
| ·基于阈值的分割方法 | 第66-68页 |
| ·本文中采用的缺陷分割方法 | 第68-72页 |
| ·算法基本原理 | 第69-72页 |
| 第六章 基于科学级CCD相机的X射线成像系统的应用 | 第72-79页 |
| ·在锅炉焊管环焊缝检测系统中的应用 | 第72-75页 |
| ·在高温熔体界面状态检测系统中的应用 | 第75-79页 |
| 总结 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 攻读硕士学位期间所发表论文 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86页 |
