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新型色散型紫外成像光谱仪光学系统设计与性能测试

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第11-19页
    1.1 引言第11页
    1.2 色散型成像光谱技术及其光学系统发展第11-13页
    1.3 紫外成像光谱仪发展现状第13-16页
        1.3.1 国外发展概况第13-15页
        1.3.2 国内发展现状第15-16页
    1.4 平面衍射光栅色散型成像光谱仪像差理论的发展第16-17页
    1.5 课题研究内容第17页
    1.6 论文结构第17-19页
第2章 光栅色散型成像光谱仪理论第19-32页
    2.1 成像光谱仪的基本理论第19-21页
        2.1.1 成像光谱仪结构第19-20页
        2.1.2 光栅色散型成像光谱仪第20-21页
    2.2 平面衍射光栅第21-26页
        2.2.1 自由光谱范围第23页
        2.2.2 闪耀光栅第23-24页
        2.2.3 角色散第24-25页
        2.2.4 线色散第25-26页
    2.3 主要光学性能指标第26-31页
        2.3.1 光谱分辨率第26-31页
        2.3.2 空间分辨率第31页
    2.4 本章小结第31-32页
第3章 以光栅为分界的成像光谱仪像差理论分析第32-47页
    3.1 像差对成像光谱仪的影响第32-34页
        3.1.1 球差第32页
        3.1.2 彗差第32-33页
        3.1.3 像散第33-34页
        3.1.4 场曲和畸变第34页
    3.2 以光栅为分界的成像光谱仪像差理论第34-45页
        3.2.1 望远镜第35-39页
        3.2.2 聚焦光学系统第39-45页
    3.3 本章小结第45-47页
第4章 以光栅为分界的成像光谱仪光学设计第47-61页
    4.1 成像光谱仪参数估计第47-52页
        4.1.1 光学F数第47-48页
        4.1.2 聚焦光学系统焦距第48-49页
        4.1.3 望远镜焦距第49-52页
    4.2 以光栅为分界的成像光谱仪系统设计第52-58页
    4.3 公差分析第58-60页
    4.4 本章小结第60-61页
第5章 紫外成像光谱仪性能分析第61-86页
    5.1 波长定标第62-66页
        5.1.1 波长定标原理第62-63页
        5.1.2 波长定标实验第63-66页
        5.1.3 波长定标不确定度分析第66页
    5.2 辐射定标第66-75页
        5.2.1 辐射定标原理第67-69页
        5.2.2 辐射定标实验第69-74页
        5.2.3 辐射定标不确定度第74-75页
    5.3 光谱分辨率测试第75-77页
    5.4 空间分辨率测试第77-82页
        5.4.1 0 级成像分辨力检测第79-81页
        5.4.2 240~360nm波段成像分辨力检测第81-82页
    5.5 光谱图像重建第82-84页
    5.6 本章小结第84-86页
第6章 总结与展望第86-88页
    6.1 总结第86-87页
    6.2 展望第87-88页
参考文献第88-93页
附录 辐射定标检测报告第93-98页
攻读学位期间研究成果第98-99页
致谢第99页

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