| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 图表目录 | 第9-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 研究背景 | 第10-14页 |
| 1.2.1 集成电路的成品率问题与测试芯片 | 第10-11页 |
| 1.2.2 测试芯片设计面临的挑战 | 第11-12页 |
| 1.2.3 可寻址测试芯片与基于产品版图的测试芯片 | 第12-14页 |
| 1.3 研究内容 | 第14页 |
| 1.4 章节安排 | 第14-15页 |
| 第2章 可寻址测试芯片及其自动分配算法研究 | 第15-29页 |
| 2.1 可寻址测试芯片的原理 | 第15页 |
| 2.2 可寻址测试芯片设计的现状 | 第15-17页 |
| 2.3 可寻址测试芯片测试结构分配问题概要 | 第17-19页 |
| 2.4 可寻址测试芯片测试结构分配问题建模 | 第19-23页 |
| 2.4.1 确定数学模型变量语义 | 第20页 |
| 2.4.2 构建数学模型约束方程 | 第20-23页 |
| 2.5 基于线性规划数学模型的优化策略 | 第23页 |
| 2.6 实验结果 | 第23-27页 |
| 2.6.1 测试结构分配效果 | 第23-25页 |
| 2.6.2 算法运行效率 | 第25-26页 |
| 2.6.3 分配结果统计 | 第26-27页 |
| 2.7 本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 基于产品版图测试芯片及其自动分配算法研究 | 第29-44页 |
| 3.1 基于产品版图测试芯片简介 | 第29-30页 |
| 3.2 基于产品版图测试芯片分配问题 | 第30-32页 |
| 3.3 基于产品版图测试芯片分配问题建模 | 第32-34页 |
| 3.3.1 确定变量语义 | 第32页 |
| 3.3.2 构建约束方程 | 第32-34页 |
| 3.4 基于产品版图测试芯片分配问题优化算法 | 第34-38页 |
| 3.5 实验结果 | 第38-42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-44页 |
| 第4章 结束语 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 作者简历 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |