摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
1.1 课题研究背景与意义 | 第10-11页 |
1.2 时间测量在国内外高能物理实验中的研究现状 | 第11-19页 |
1.2.1 基于 ASIC 实现的 HPTDC | 第11-14页 |
1.2.2 基于 FPGA 实现的 TDC | 第14-15页 |
1.2.3 吴进远设计的 TDC | 第15-19页 |
1.3 本论文主要工作 | 第19-21页 |
第2章 时间间隔测量的实现方法 | 第21-28页 |
2.1 几种典型的时间间隔测量方法 | 第21-24页 |
2.1.1 直接计数法 | 第21-22页 |
2.1.2 模拟时间放大法 | 第22-23页 |
2.1.3 游标法 | 第23-24页 |
2.1.4 延迟线法 | 第24页 |
2.2 “粗”计数和“细”时间测量结合技术 | 第24-25页 |
2.3 时间内插技术 | 第25-27页 |
2.3.1 模拟内插法 | 第25-26页 |
2.3.2 游标内插法 | 第26-27页 |
2.3.3 延迟线内插法 | 第27页 |
2.4 本章小结 | 第27-28页 |
第3章 系统硬件设计 | 第28-49页 |
3.1 电路原理图设计 | 第28-42页 |
3.1.1 前端信号输入模块 | 第28页 |
3.1.2 时间数字转换模块 | 第28-35页 |
3.1.3 数据读出模块 | 第35-38页 |
3.1.4 时钟模块 | 第38-39页 |
3.1.5 电源管理模块 | 第39-42页 |
3.2 PCB 设计与仿真 | 第42-48页 |
3.2.1 传输线效应 | 第42页 |
3.2.2 信号完整性 | 第42-46页 |
3.2.3 电源完整性 | 第46-47页 |
3.2.4 PCB 布局的基本原则 | 第47页 |
3.2.5 PCB 布线的基本原则 | 第47-48页 |
3.3 本章小结 | 第48-49页 |
第4章 数据读出逻辑的设计 | 第49-58页 |
4.1 数据读出方案 | 第49页 |
4.2 串并转换 | 第49-50页 |
4.3 8b/10b 解码 | 第50-53页 |
4.3.1 8b/10b 编码原理 | 第50-52页 |
4.3.2 8b/10b 解码设计 | 第52-53页 |
4.4 串并转换及解码后的数据处理 | 第53-54页 |
4.5 数据缓存 | 第54-55页 |
4.6 VME 接口的读写控制 | 第55-57页 |
4.7 本章小结 | 第57-58页 |
第5章 测试结果及验证分析 | 第58-64页 |
5.1 关键信号测试 | 第58-59页 |
5.2 VME 总线接口的调试 | 第59-61页 |
5.3 测试结果分析 | 第61-63页 |
5.4 本章小结 | 第63-64页 |
结论 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-69页 |
附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第69-70页 |
附录 B 32 通道 TDC 电路的 PCB 板图 | 第70-71页 |
附录 C 32 通道 TDC 测试板实物图 | 第71-72页 |
致谢 | 第72页 |