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多通道高精度时间数字变换器的电路实现

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-21页
    1.1 课题研究背景与意义第10-11页
    1.2 时间测量在国内外高能物理实验中的研究现状第11-19页
        1.2.1 基于 ASIC 实现的 HPTDC第11-14页
        1.2.2 基于 FPGA 实现的 TDC第14-15页
        1.2.3 吴进远设计的 TDC第15-19页
    1.3 本论文主要工作第19-21页
第2章 时间间隔测量的实现方法第21-28页
    2.1 几种典型的时间间隔测量方法第21-24页
        2.1.1 直接计数法第21-22页
        2.1.2 模拟时间放大法第22-23页
        2.1.3 游标法第23-24页
        2.1.4 延迟线法第24页
    2.2 “粗”计数和“细”时间测量结合技术第24-25页
    2.3 时间内插技术第25-27页
        2.3.1 模拟内插法第25-26页
        2.3.2 游标内插法第26-27页
        2.3.3 延迟线内插法第27页
    2.4 本章小结第27-28页
第3章 系统硬件设计第28-49页
    3.1 电路原理图设计第28-42页
        3.1.1 前端信号输入模块第28页
        3.1.2 时间数字转换模块第28-35页
        3.1.3 数据读出模块第35-38页
        3.1.4 时钟模块第38-39页
        3.1.5 电源管理模块第39-42页
    3.2 PCB 设计与仿真第42-48页
        3.2.1 传输线效应第42页
        3.2.2 信号完整性第42-46页
        3.2.3 电源完整性第46-47页
        3.2.4 PCB 布局的基本原则第47页
        3.2.5 PCB 布线的基本原则第47-48页
    3.3 本章小结第48-49页
第4章 数据读出逻辑的设计第49-58页
    4.1 数据读出方案第49页
    4.2 串并转换第49-50页
    4.3 8b/10b 解码第50-53页
        4.3.1 8b/10b 编码原理第50-52页
        4.3.2 8b/10b 解码设计第52-53页
    4.4 串并转换及解码后的数据处理第53-54页
    4.5 数据缓存第54-55页
    4.6 VME 接口的读写控制第55-57页
    4.7 本章小结第57-58页
第5章 测试结果及验证分析第58-64页
    5.1 关键信号测试第58-59页
    5.2 VME 总线接口的调试第59-61页
    5.3 测试结果分析第61-63页
    5.4 本章小结第63-64页
结论第64-66页
参考文献第66-69页
附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录第69-70页
附录 B 32 通道 TDC 电路的 PCB 板图第70-71页
附录 C 32 通道 TDC 测试板实物图第71-72页
致谢第72页

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