多FPGA的相控阵超声检测系统的设计与实现
摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-13页 |
1.1 无损检测 | 第9-10页 |
1.2 国内外相控阵超声技术的研究现状 | 第10-11页 |
1.3 课题的研究意义和主要内容 | 第11-13页 |
第2章 相控阵超声检测的基本原理 | 第13-21页 |
2.1 超声换能器 | 第13-14页 |
2.2 相控阵超声偏转聚焦原理 | 第14-15页 |
2.3 缺陷判断和定位 | 第15-17页 |
2.4 独立通道数与系统横向分辨率的关系 | 第17-19页 |
2.5 本章小结 | 第19-21页 |
第3章 相控阵超声检测系统的硬件设计 | 第21-45页 |
3.1 相控阵系统的设计要求及总体设计方案 | 第21-24页 |
3.1.1 相控阵系统的设计要求 | 第21页 |
3.1.2 相控阵系统的总体设计方案 | 第21-24页 |
3.2 高压脉冲发射 | 第24-32页 |
3.2.1 高压脉冲产生的问题 | 第24-26页 |
3.2.2 高压脉冲产生 | 第26-29页 |
3.2.3 高压电源 | 第29-30页 |
3.2.4 高压电源调节 | 第30-32页 |
3.3 回波信号调理 | 第32-36页 |
3.3.1 选频放大 | 第32-33页 |
3.3.2 通道选择开关 | 第33-34页 |
3.3.3 可变增益放大电路 | 第34-36页 |
3.4 模数转换模块 | 第36-39页 |
3.4.1 模数转换器 | 第36-37页 |
3.4.2 LVDS传输原理与应用 | 第37-39页 |
3.5 系统同步设计 | 第39-41页 |
3.5.1 同步分析 | 第39页 |
3.5.2 时钟同步 | 第39-40页 |
3.5.3 数据同步 | 第40-41页 |
3.6 系统核心FPGA | 第41页 |
3.7 背板连接器 | 第41-43页 |
3.8 本章小结 | 第43-45页 |
第4章 缺陷回波处理及实验 | 第45-69页 |
4.1 高压脉冲的产生 | 第45-48页 |
4.1.1 高压脉冲发射细延时方法 | 第45-46页 |
4.1.2 高压脉冲发射延时实现 | 第46-48页 |
4.2 回波信号采集 | 第48-56页 |
4.2.1 基于Nios II的SPI硬件设计 | 第48-51页 |
4.2.2 基于Nios II的SPI软件设计 | 第51-53页 |
4.2.3 基于LVDS的数据采集 | 第53-56页 |
4.3 数字波束形成 | 第56-58页 |
4.4 基于DSP Builder的FIR滤波 | 第58-64页 |
4.5 缺陷检测实验 | 第64-67页 |
4.6 本章小结 | 第67-69页 |
第5章 总结与展望 | 第69-71页 |
参考文献 | 第71-75页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第75-77页 |
致谢 | 第77-78页 |