首页--工业技术论文--机械、仪表工业论文--材料试验机与试验仪器论文--无损探伤仪器论文

多FPGA的相控阵超声检测系统的设计与实现

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第1章 绪论第9-13页
    1.1 无损检测第9-10页
    1.2 国内外相控阵超声技术的研究现状第10-11页
    1.3 课题的研究意义和主要内容第11-13页
第2章 相控阵超声检测的基本原理第13-21页
    2.1 超声换能器第13-14页
    2.2 相控阵超声偏转聚焦原理第14-15页
    2.3 缺陷判断和定位第15-17页
    2.4 独立通道数与系统横向分辨率的关系第17-19页
    2.5 本章小结第19-21页
第3章 相控阵超声检测系统的硬件设计第21-45页
    3.1 相控阵系统的设计要求及总体设计方案第21-24页
        3.1.1 相控阵系统的设计要求第21页
        3.1.2 相控阵系统的总体设计方案第21-24页
    3.2 高压脉冲发射第24-32页
        3.2.1 高压脉冲产生的问题第24-26页
        3.2.2 高压脉冲产生第26-29页
        3.2.3 高压电源第29-30页
        3.2.4 高压电源调节第30-32页
    3.3 回波信号调理第32-36页
        3.3.1 选频放大第32-33页
        3.3.2 通道选择开关第33-34页
        3.3.3 可变增益放大电路第34-36页
    3.4 模数转换模块第36-39页
        3.4.1 模数转换器第36-37页
        3.4.2 LVDS传输原理与应用第37-39页
    3.5 系统同步设计第39-41页
        3.5.1 同步分析第39页
        3.5.2 时钟同步第39-40页
        3.5.3 数据同步第40-41页
    3.6 系统核心FPGA第41页
    3.7 背板连接器第41-43页
    3.8 本章小结第43-45页
第4章 缺陷回波处理及实验第45-69页
    4.1 高压脉冲的产生第45-48页
        4.1.1 高压脉冲发射细延时方法第45-46页
        4.1.2 高压脉冲发射延时实现第46-48页
    4.2 回波信号采集第48-56页
        4.2.1 基于Nios II的SPI硬件设计第48-51页
        4.2.2 基于Nios II的SPI软件设计第51-53页
        4.2.3 基于LVDS的数据采集第53-56页
    4.3 数字波束形成第56-58页
    4.4 基于DSP Builder的FIR滤波第58-64页
    4.5 缺陷检测实验第64-67页
    4.6 本章小结第67-69页
第5章 总结与展望第69-71页
参考文献第71-75页
发表论文和参加科研情况说明第75-77页
致谢第77-78页

论文共78页,点击 下载论文
上一篇:基于动力调谐陀螺仪的模型分析与教学系统设计
下一篇:单轴法线跟踪传感的关键技术研究