航天继电器失效机理与寿命预测方法的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题的来源及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 继电器失效机理分析的国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 继电器寿命预测的国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4 继电器寿命试验装置的国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 航天继电器失效机理分析及失效模式判别 | 第16-39页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 寿命试验试验条件 | 第16-18页 |
| 2.2.1 试验对象 | 第16页 |
| 2.2.2 试验条件 | 第16页 |
| 2.2.3 敏感参数定义 | 第16-18页 |
| 2.3 失效机理分析方法 | 第18-22页 |
| 2.4 失效机理分析结果 | 第22-34页 |
| 2.4.1 不同负载下触点表面形貌 | 第23-29页 |
| 2.4.2 不同负载下敏感参数退化趋势 | 第29-32页 |
| 2.4.3 不同负载下航天继电器失效机理分析比较 | 第32-34页 |
| 2.5 失效模式判别方法 | 第34-36页 |
| 2.5.1 主元分析 | 第35页 |
| 2.5.2 马氏距离判别 | 第35-36页 |
| 2.6 失效模式判别结果 | 第36-38页 |
| 2.7 本章小结 | 第38-39页 |
| 第3章 航天继电器退化模型建立及寿命预测 | 第39-49页 |
| 3.1 引言 | 第39页 |
| 3.2 寿命预测变量及其失效阈值 | 第39-40页 |
| 3.2.1 磨损失效 | 第39页 |
| 3.2.2 桥接失效 | 第39-40页 |
| 3.2.3 污染失效 | 第40页 |
| 3.3 预测变量消噪 | 第40-43页 |
| 3.3.1 数据处理方法 | 第40-42页 |
| 3.3.2 数据处理结果 | 第42-43页 |
| 3.4 退化模型建立及寿命预测 | 第43-47页 |
| 3.4.1 退化模型建立 | 第43-45页 |
| 3.4.2 寿命预测 | 第45-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-49页 |
| 第4章 航天继电器可靠性寿命试验系统 | 第49-68页 |
| 4.1 引言 | 第49页 |
| 4.2 系统总体方案设计 | 第49-52页 |
| 4.2.1 系统功能及技术指标 | 第49-50页 |
| 4.2.2 总体方案设计 | 第50-52页 |
| 4.3 寿命试验负载设计 | 第52-54页 |
| 4.3.1 阻性负载设计 | 第52页 |
| 4.3.2 感性负载设计 | 第52-53页 |
| 4.3.3 容性负载设计 | 第53-54页 |
| 4.4 系统硬件设计 | 第54-59页 |
| 4.4.1 主回路设计 | 第54-55页 |
| 4.4.2 数据采集及处理单元设计 | 第55-57页 |
| 4.4.3 信号调理单元设计 | 第57-58页 |
| 4.4.4 线圈驱动单元设计 | 第58-59页 |
| 4.5 系统下位机软件设计 | 第59-64页 |
| 4.5.1 主控单元 | 第60页 |
| 4.5.2 数据处理单元 | 第60-64页 |
| 4.6 系统上位机软件设计 | 第64-67页 |
| 4.6.1 试验参数设置及数据管理模块 | 第64-65页 |
| 4.6.2 失效机理分析及其模式判别模块 | 第65-66页 |
| 4.6.3 寿命预测模块 | 第66-67页 |
| 4.7 本章小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 附录 | 第73-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
