| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 注释表 | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.3 相控阵天线测试诊断技术研究现状分析 | 第12-18页 |
| 1.3.1 全息诊断方法 | 第13-14页 |
| 1.3.2 基于程序控制的方法 | 第14-16页 |
| 1.3.3 基于模式识别的方法 | 第16-18页 |
| 1.4 课题研究内容与结构安排 | 第18-21页 |
| 第二章 相控阵天线测试方法 | 第21-30页 |
| 2.1 相控阵天线基本原理 | 第21-27页 |
| 2.1.1 结构组成 | 第21-23页 |
| 2.1.2 相控阵天线远场辐射原理 | 第23-25页 |
| 2.1.3 误差与互耦效应 | 第25-27页 |
| 2.2 相控阵天线故障信号测试方法 | 第27-29页 |
| 2.2.1 数学模型 | 第27-28页 |
| 2.2.2 故障信号测试方法设计 | 第28-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 相控阵天线故障模型与特征提取 | 第30-60页 |
| 3.1 相控阵天线故障模型与方向图分析 | 第30-42页 |
| 3.1.1 相控阵天线故障仿真模型 | 第30-35页 |
| 3.1.2 相控阵天线故障模式与方向图分析 | 第35-38页 |
| 3.1.3 相控阵天线故障诊断系统与实例分析 | 第38-42页 |
| 3.2 相控阵阵元故障信号分析 | 第42-47页 |
| 3.3 相控阵天线故障特征提取 | 第47-51页 |
| 3.3.1 故障信号的降噪处理 | 第47-48页 |
| 3.3.2 故障特征向量的提取 | 第48-50页 |
| 3.3.3 故障数据降维处理 | 第50-51页 |
| 3.4 实例分析 | 第51-59页 |
| 3.4.1 信号降噪结果 | 第51-55页 |
| 3.4.2 特征参数预处理结果 | 第55-57页 |
| 3.4.3 有效性和差异性检验 | 第57-59页 |
| 3.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第四章 基于分层支持向量机的相控阵天线故障诊断技术 | 第60-78页 |
| 4.1 基于分层支持向量机的相控阵天线故障诊断方法设计 | 第60-71页 |
| 4.1.1 基于投影聚类的分层方法介绍 | 第60-65页 |
| 4.1.2 基于支持向量机的节点分类器设计 | 第65-71页 |
| 4.2 仿真实验结果分析 | 第71-77页 |
| 4.3 本章小结 | 第77-78页 |
| 第五章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 5.1 论文工作回顾 | 第78页 |
| 5.2 需要进一步研究的问题 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 附录A | 第86-91页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第91页 |