| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-24页 |
| ·引言 | 第12页 |
| ·EMCCD的原理与结构 | 第12-13页 |
| ·温度对EMCCD相机探测能力的影响 | 第13-21页 |
| ·暗电流(Dark current,Sd) | 第14-19页 |
| ·电子倍增增益(Multiplication gain,G) | 第19-21页 |
| ·EMCCD相机致冷技术发展现状 | 第21-22页 |
| ·本文的研究背景、研究意义和研究目标 | 第22-23页 |
| ·本文的研究内容 | 第23-24页 |
| 第2章EMCCD相机致冷技术绝热设计 | 第24-50页 |
| ·绝热设计的目的和基本方向 | 第24-26页 |
| ·EMCCD相机致冷系统漏热分析 | 第26-29页 |
| ·真空绝热 | 第29-33页 |
| ·真空绝热原理 | 第29-32页 |
| ·真空绝热临界压强及绝热效果 | 第32页 |
| ·EMCCD相机致冷系统真空绝热难点 | 第32-33页 |
| ·氪气绝热 | 第33-49页 |
| ·基于控制氪气厚度抑制自然对流绝热 | 第34-43页 |
| ·基于控制氪气压强抑制自然对流绝热 | 第43-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第3章 制冷器数值分析方法与优化 | 第50-86页 |
| ·TEC的发展历史与现状 | 第50-53页 |
| ·热电制冷基本原理 | 第53-55页 |
| ·热电制冷器数值分析方法 | 第55-67页 |
| ·有限元分析法 | 第55-60页 |
| ·经验参数法 | 第60-64页 |
| ·数值分析方法准确性及适用范围分析 | 第64-67页 |
| ·热电制冷器最优性能参数与影响致冷温度因素分析 | 第67-74页 |
| ·热电制冷器的最优性能参数 | 第67-72页 |
| ·影响制冷器致冷温度的外部因素分析 | 第72-74页 |
| ·制冷器设计与致冷温度分析 | 第74-85页 |
| ·分析方法与流程 | 第74-77页 |
| ·CCD60 相机致冷系统TEC设计与分析 | 第77-82页 |
| ·“基于控制氪气压强抑制自然对流绝热”实验系统TEC设计与分析 | 第82-85页 |
| ·本章小结 | 第85-86页 |
| 第4章 散热过程设计与数值分析 | 第86-98页 |
| ·散热过程中的接触热阻与传导热阻 | 第86-87页 |
| ·接触热阻 | 第86-87页 |
| ·传导热阻 | 第87页 |
| ·散热热阻 | 第87-92页 |
| ·风冷散热方案 | 第87-90页 |
| ·水冷散热方案 | 第90-92页 |
| ·风冷、水冷一体式散热器 | 第92-97页 |
| ·风冷散热热阻 | 第93页 |
| ·水冷散热热阻 | 第93-97页 |
| ·本章小结 | 第97-98页 |
| 第5章 致冷系统温度测量与校准技术研究 | 第98-105页 |
| ·EMCCD相机致冷系统测温需求 | 第98-99页 |
| ·温度测量技术研究 | 第99-101页 |
| ·温度测量与记录 | 第101-102页 |
| ·温度传感器精度实验 | 第102-104页 |
| ·零点校准 | 第102-103页 |
| ·逐点精度测试 | 第103-104页 |
| ·本章小结 | 第104-105页 |
| 第6章EMCCD相机致冷系统实验测试 | 第105-119页 |
| ·氪气压强对致冷温度的影响 | 第105-108页 |
| ·实验方案 | 第105-106页 |
| ·实验结果 | 第106-108页 |
| ·致冷温度的时间响应特性 | 第108-110页 |
| ·实验方案 | 第108页 |
| ·试验结果 | 第108-110页 |
| ·理论优化工作点的实际工作状态测试 | 第110-116页 |
| ·实验方案 | 第110-111页 |
| ·实验结果 | 第111-116页 |
| ·最低致冷温度实验 | 第116页 |
| ·自主CCD60 相机展示 | 第116-118页 |
| ·本章小结 | 第118-119页 |
| 第7章 总结与展望 | 第119-121页 |
| 参考文献 | 第121-127页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第127页 |