多阶段间歇过程故障检测方法的研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-20页 |
·引言 | 第9页 |
·动态系统故障诊断技术的分析 | 第9-12页 |
·基于多元统计的故障检测方法的研究 | 第12-17页 |
·主元分析方法 | 第13-14页 |
·基于主元分析的故障检测 | 第14-15页 |
·偏最小二乘方法 | 第15-16页 |
·独立成分分析方法 | 第16-17页 |
·基于间歇生产过程的特点分析 | 第17-18页 |
·本文的研究内容和安排 | 第18-20页 |
第2章 基于间歇过程故障检测方法的理论基础分析 | 第20-32页 |
·引言 | 第20页 |
·间歇生产过程的故障检测技术分析 | 第20-23页 |
·多方向主元分析方法的原理分析 | 第22-23页 |
·间歇过程的数据特点 | 第23-27页 |
·间歇过程的数据矩阵及常用处理方法的分析 | 第23-25页 |
·间歇过程的数据特点及对应的处理方法的分析 | 第25-27页 |
·本文研究内容的算法理论背景分析 | 第27-31页 |
·谱聚类算法的理论研究背景 | 第27-28页 |
·传统高斯混合模型(GMM)算法的理论研究背景 | 第28-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第3章 针对离群点干扰的高斯混合模型建模方法 | 第32-44页 |
·引言 | 第32页 |
·基于F-J算法的高斯混合模型(GMM) | 第32-35页 |
·基于F-J算法的GMM建模阶段 | 第33-34页 |
·集成监控指标 | 第34-35页 |
·间歇过程故障检测的实现 | 第35-37页 |
·基于高斯混合模型的故障检测方法的具体操作流程 | 第35-37页 |
·建模降维阶段维数的选择 | 第37页 |
·仿真实验 | 第37-43页 |
·半导体仿真实验分析 | 第37-38页 |
·仿真实验结果 | 第38-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第4章 基于谱聚类算法的间歇过程故障检测 | 第44-60页 |
·引言 | 第44页 |
·谱聚类的图划分准则理论分析 | 第44-45页 |
·基于谱聚类的故障检测 | 第45-48页 |
·谱聚类算法的基本原理 | 第45-46页 |
·聚类效果的评判 | 第46-47页 |
·模型个数的选择 | 第47页 |
·基于谱聚类的故障检测方法的具体操作流程 | 第47页 |
·最大相似度模型的确定 | 第47-48页 |
·仿真实验 | 第48-58页 |
·青霉素仿真实验过程分析 | 第48-50页 |
·仿真实验结果 | 第50-58页 |
·本章小结 | 第58-60页 |
第5章 总结和展望 | 第60-62页 |
·研究工作总结 | 第60-61页 |
·研究工作展望 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
作者在攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第69页 |