基于虚拟仪器的晶体管特性测试仪的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| ·论文研究的背景 | 第10-11页 |
| ·虚拟仪器简介 | 第11-12页 |
| ·LABVIEW 简介 | 第12-13页 |
| ·传统晶体管特性图示仪简介 | 第13-14页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第14-16页 |
| 2 虚拟仪器的数据采集 | 第16-24页 |
| ·数据采集系统的构成 | 第16-17页 |
| ·信号调理 | 第17-19页 |
| ·信号分类 | 第17-18页 |
| ·信号调理的方法 | 第18-19页 |
| ·测量系统的连接方式 | 第19-24页 |
| ·接地信号和浮动信号 | 第19页 |
| ·测量系统分类 | 第19-21页 |
| ·选择合适的测量系统 | 第21-24页 |
| 3 NI 公司的数据采集卡简介 | 第24-34页 |
| ·数据采集卡的功能简介 | 第24页 |
| ·数据采集卡的软件配置 | 第24-25页 |
| ·多通道的采样方式 | 第25-28页 |
| ·循环采样 | 第26页 |
| ·同步采样 | 第26-27页 |
| ·间隔采样 | 第27-28页 |
| ·数据采集系统的构成 | 第28-29页 |
| ·缓冲（Buffer） | 第28-29页 |
| ·触发（Triggering） | 第29页 |
| ·模拟输入和模拟输出的相关参数 | 第29-31页 |
| ·模拟输入的参数 | 第29-30页 |
| ·模拟输出的参数 | 第30-31页 |
| ·NI 6024E DAQ 卡的工作原理及结构 | 第31-34页 |
| ·采集卡的模拟输入参数 | 第32页 |
| ·采集卡的模拟输出参数 | 第32-34页 |
| 4 测试系统的构成及实现 | 第34-55页 |
| ·系统总体设计 | 第34-35页 |
| ·系统的设计要求 | 第34页 |
| ·系统总体结构 | 第34-35页 |
| ·外围测试电路及连接 | 第35页 |
| ·软件系统的组成 | 第35-40页 |
| ·仪器面板的构建 | 第36-38页 |
| ·功能框图的建立 | 第38页 |
| ·动态程序控制 | 第38-40页 |
| ·三极管特性曲线测试 | 第40-48页 |
| ·三极管输出特性曲线 | 第40-41页 |
| ·扫描信号源 | 第41-43页 |
| ·数据的采集与处理 | 第43-46页 |
| ·三极管输入特性曲线 | 第46-48页 |
| ·场效应管的特性测试 | 第48-51页 |
| ·部分晶体管测试结果 | 第51-55页 |
| 5 结论 | 第55-57页 |
| ·完成的工作和成果 | 第55页 |
| ·改进和展望 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 附录 | 第60-62页 |
