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FPGA芯片TILE单元建模以及故障覆盖率分析

图片目录第1-5页
图表目录第5-6页
摘要第6-7页
Abstract第7-9页
第一章 引言第9-11页
   ·FPGA概述第9页
   ·TurboFault软件概述第9页
   ·工作重点第9-11页
第二章 研究背景第11-22页
   ·FPGA通用结构第11-17页
     ·可编程逻辑单元结构第12-14页
     ·互连资源结构第14-16页
     ·编程配置资源第16-17页
   ·软件流程第17-21页
     ·软件功能第17页
     ·软件流程第17-19页
     ·逻辑仿真以及故障覆盖率测试第19-21页
   ·本章小结第21-22页
第三章 设计流程第22-52页
   ·测试芯片模型建立与仿真第22-37页
     ·逻辑资源结构建模第23-31页
     ·TILE内部互连资源结构建模第31-35页
     ·逻辑配置方法设计第35-37页
   ·测试pattern介绍第37-40页
   ·测试流程第40-41页
   ·模型仿真第41-51页
   ·本章小结第51-52页
第四章 测试覆盖率报告第52-65页
   ·故障归并第52-56页
   ·TILE单元故障覆盖率第56-58页
   ·SLICE单元测试pattern补充以及故障覆盖率第58-62页
   ·设计不足以及后续展望第62-64页
   ·本章小结第64-65页
第五章 设计总结第65-67页
   ·主要工作第65-66页
   ·创新点第66页
   ·设计总结第66-67页
参考文献第67-69页
致谢第69-70页

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