地质样品中有效原子序数的确定
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-14页 |
| ·科学意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 理论基础 | 第14-22页 |
| ·X 射线与X 荧光 | 第14-16页 |
| ·X 射线的本质 | 第14-15页 |
| ·特征X 射线荧光的产生及与原子序数的关系 | 第15-16页 |
| ·X 射线在物质中的吸收 | 第16-18页 |
| ·X 射线的吸收 | 第16-17页 |
| ·质量吸收系数 | 第17页 |
| ·质量吸收系数与原子序数的关系 | 第17-18页 |
| ·X 射线在物质中的散射 | 第18-22页 |
| ·相干散射和相干散射截面 | 第18-19页 |
| ·非相干散射和非相干散射截面 | 第19-21页 |
| ·非相干和相干散射的相对强度 | 第21-22页 |
| 第3章 有效原子序数的确定方法 | 第22-35页 |
| ·仪器简介 | 第22-24页 |
| ·样品制备 | 第24-26页 |
| ·238PU源的散射谱 | 第26-28页 |
| ·238Pu 源散射谱的形成 | 第26-27页 |
| ·238Pu 源散射能谱图 | 第27-28页 |
| ·谱线强度的相对关系 | 第28-29页 |
| ·散射与有效原子序数的理论关系 | 第29-30页 |
| ·有效原子序数计算方法 | 第30-33页 |
| ·已知含量的有效原子序数计算方法 | 第30-32页 |
| ·未知含量的有效原子序数计算方法 | 第32-33页 |
| ·X 荧光测量中不确定度的来源 | 第33-35页 |
| 第4章 几个关键性技术 | 第35-47页 |
| ·谱数据处理 | 第35-38页 |
| ·谱线的本底扣除 | 第35-36页 |
| ·重峰的分解技术 | 第36-38页 |
| ·蒙特卡罗模拟法 | 第38-40页 |
| ·蒙特卡罗建模 | 第38-39页 |
| ·康普顿散射能谱的蒙特卡罗模拟 | 第39-40页 |
| ·散射角度的探讨 | 第40-42页 |
| ·密度效应 | 第42-44页 |
| ·颗粒度效应 | 第44-45页 |
| ·原子序数的修正系数 | 第45-47页 |
| 第5章 应用及效果 | 第47-68页 |
| ·基础实验 | 第47-55页 |
| ·精密度实验 | 第47-50页 |
| ·粒径实验 | 第50-52页 |
| ·密度实验 | 第52-53页 |
| ·重元素散射灵敏度实验 | 第53-54页 |
| ·散射角度实验 | 第54-55页 |
| ·方法在地质样品中的应用 | 第55-66页 |
| ·红山嘴工区 | 第55-59页 |
| ·蒙马拉工区 | 第59-62页 |
| ·托逊工区 | 第62-66页 |
| ·应用效果评价及误差分析 | 第66-68页 |
| 结论 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 攻读学位其间的学术成果 | 第73页 |
