数字电路可测性算法和C++程序实现

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-6页
目录	第6-8页
第一章 引言	第8-11页
·集成电路测试的重要性	第8-9页
·可测性设计的必要性	第9-10页
·课题的来源和主要解决的问题	第10-11页
第二章 可测性分析、测度算法	第11-20页
·可测性的两个重要概念	第11页
·可测性分析的基本概念	第11-12页
·可测性算法	第12-20页
·有关定义	第12-13页
·可测性的有关计算公式	第13-17页
·可测性计算算法	第17-20页
第三章 数字电路标准单元类的设计	第20-48页
·类机制的思想	第20-22页
·数字电路标准单元类的设计	第22-24页
·数字电路标准单元类的继承关系	第24-29页
·数字电路标准单元类的冗余	第24-25页
·数字电路标准单元中的基类、派生类	第25-27页
·可测性计算的多态性	第27-29页
·基类(门类)、派生类成员函数流程图描述	第29-48页
·基类(门类)成员函数流程图描述	第29-38页
·派生类的成员函数流程图描述	第38-48页
第四章 可测性算法中所使用的队列	第48-51页
·队列在数字电路可测性计算中的作用	第48页
·队列类(QUEUE 类)的设计	第48-51页
·队列类的描述	第48-49页
·队列类成员函数的流程图描述	第49-51页
第五章 实现可测性计算算法的C++程序设计思想	第51-59页
·电路的数字化描述	第51-52页
·介绍主程序中调用的几个函数	第52-57页
·主程序的流程图描述	第57-59页
第六章 结果和分析	第59-67页
·人工计算数字电路可测性过程及计算结果	第59-62页
·程序运行的结果、结果分析及可测性改善	第62-67页
参考文献	第67-68页
致谢	第68-69页
个人简历、攻读硕士学位期间完成的论文及科研情况	第69页