| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| ·位标器及线圈部件概述 | 第10-16页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·位标器介绍 | 第10-13页 |
| ·线圈部件在位标器中的作用与理论分析 | 第13-16页 |
| ·嵌入式系统概述 | 第16-19页 |
| ·嵌入式系统的定义 | 第16-17页 |
| ·嵌入式系统特点 | 第17-18页 |
| ·嵌入式系统的发展历史 | 第18-19页 |
| ·嵌入式系统的发展前景 | 第19页 |
| ·研究内容 | 第19-20页 |
| ·文章结构 | 第20-21页 |
| 第二章 位标器线包测试系统方案设计 | 第21-32页 |
| ·测试任务的提出 | 第21页 |
| ·方案定型 | 第21-24页 |
| ·基于工业控制计算机的方案 | 第22页 |
| ·基于嵌入式系统的方案 | 第22-23页 |
| ·选择嵌入式方案的原因 | 第23-24页 |
| ·Φ角信号测试概述 | 第24-25页 |
| ·Φ角信号测试原理 | 第24页 |
| ·Φ角信号测试U_φ输出分析 | 第24-25页 |
| ·线包调制线圈和基准线圈相位差测试 | 第25-28页 |
| ·线圈相位测试原理 | 第25页 |
| ·线包调制线圈输出U_t 分析 | 第25-26页 |
| ·线包基准线圈U_j 输出分析 | 第26-27页 |
| ·线包调制线圈、基准线圈理论相位差 | 第27-28页 |
| ·位标器线包Φ线圈、调制线圈、基准线圈测试 | 第28页 |
| ·线包绝缘电阻测试 | 第28-30页 |
| ·绝缘电阻测试原理 | 第28-29页 |
| ·线包绝缘电阻测试 | 第29-30页 |
| ·线包极性测试 | 第30-31页 |
| ·线包极性测试原理 | 第30页 |
| ·线包极性测试 | 第30-31页 |
| ·线包耦合信号测试 | 第31页 |
| ·本章小节 | 第31-32页 |
| 第三章 测试系统硬件平台设计 | 第32-59页 |
| ·位标器线包Φ角、基准、调制信号测试模块设计 | 第32-51页 |
| ·稳速电路设计 | 第33-40页 |
| ·起转电路设计 | 第40-43页 |
| ·信号电路设计 | 第43-50页 |
| ·放大电路设计 | 第50-51页 |
| ·基于 S3C2410 微处理器嵌入式系统硬件平台设计 | 第51-55页 |
| ·ARM简介 | 第51-52页 |
| ·基于ARM920T核的S3C2410微处理器 | 第52-54页 |
| ·选择S3C2410微处理器原因 | 第54-55页 |
| ·基于MC68HC908GR16 的A/D数据采集模块设计 | 第55-57页 |
| ·单片机MC68HC908GR16 | 第55-56页 |
| ·单片机MC68HC908GR16 与核心板间的串行通讯 | 第56-57页 |
| ·位标器线包导通点的电阻、绝缘电阻测试模块设计 | 第57-58页 |
| ·位标器线包极性测试模块设计 | 第58页 |
| ·本章小节 | 第58-59页 |
| 第四章 测试系统平台软件设计 | 第59-71页 |
| ·嵌入式操作系统 | 第59-64页 |
| ·嵌入式操作系统及其特征 | 第59页 |
| ·主流嵌入式操作系统介绍 | 第59-61页 |
| ·嵌入式操作系统选型的评估指标 | 第61-62页 |
| ·Linux特点分析及选择Linux的原因 | 第62-64页 |
| ·嵌入式系统软件开发 | 第64-70页 |
| ·Linux操作系统在ARM平台上的移植 | 第64-66页 |
| ·Linux设备驱动移植 | 第66-68页 |
| ·串口通信实现 | 第68-69页 |
| ·图形界面的实现 | 第69-70页 |
| ·本章小节 | 第70-71页 |
| 第五章 总结 | 第71-72页 |
| ·主要成果 | 第71页 |
| ·研究展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 攻读学位期间已发表或录用的论文 | 第75-78页 |
| 上海交通大学学位论文答辩决议书 | 第78页 |
