摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 引言 | 第11-40页 |
1.1 选题的背景及意义 | 第11-17页 |
1.1.1 生物大分子结构测定的方法 | 第11-14页 |
1.1.2 晶体的获得方法 | 第14-15页 |
1.1.3 辐射损伤 | 第15-17页 |
1.1.4 选题意义 | 第17页 |
1.2 微小晶体实验技术的发展 | 第17-18页 |
1.2.1 自由电子激光装置 | 第17-18页 |
1.2.2 微聚焦光束线站 | 第18页 |
1.3 串行晶体学国内外相关研究进展 | 第18-38页 |
1.3.1 自由电子激光串行飞秒晶体学技术 | 第18-25页 |
1.3.2 同步辐射串行晶体学 | 第25-27页 |
1.3.3 基于芯片的固定靶串行晶体学技术 | 第27-31页 |
1.3.4 基于薄膜的固定靶串行晶体学技术 | 第31-38页 |
1.4 串行晶体学数据处理方法 | 第38-39页 |
1.4.1 自由电子激光串行飞秒晶体学数据处理方法 | 第38页 |
1.4.2 同步辐射串行晶体学数据处理方法 | 第38-39页 |
1.5 论文的主要研究内容 | 第39-40页 |
第2章 基于芯片的固定靶串行晶体学上样系统 | 第40-58页 |
2.1 研究背景 | 第40-41页 |
2.2 材料与方法 | 第41-49页 |
2.2.1 芯片的制作 | 第41-44页 |
2.2.2 样品制备 | 第44-45页 |
2.2.3 芯片固定支架设计 | 第45-46页 |
2.2.4 蛋白样品上样 | 第46-47页 |
2.2.5 数据收集 | 第47-48页 |
2.2.6 数据处理 | 第48-49页 |
2.3 结果与讨论 | 第49-57页 |
2.3.1 芯片背景散射 | 第49-52页 |
2.3.2 微聚焦光线对晶体辐射损伤效应 | 第52-55页 |
2.3.3 基于芯片的多颗晶体数据收集 | 第55-57页 |
2.4 结论 | 第57-58页 |
第3章 基于薄膜多颗晶体数据采集方法 | 第58-70页 |
3.1 研究背景 | 第58-60页 |
3.2 材料与方法 | 第60-64页 |
3.2.1 聚亚酰胺薄膜上样装置设计与制作 | 第60-62页 |
3.2.2 样品制备 | 第62-63页 |
3.2.3 晶体样品上样 | 第63页 |
3.2.4 数据收集 | 第63-64页 |
3.2.5 数据处理与分析 | 第64页 |
3.3 结果与讨论 | 第64-69页 |
3.3.1 利用大晶体FABP4验证方法常温与低温数据收集可行性 | 第64-67页 |
3.3.2 微小晶体数据采集可行性验证 | 第67-69页 |
3.4 小结 | 第69-70页 |
第4章 基于膜的原位晶体生长与数据采集方法 | 第70-102页 |
4.1 研究背景 | 第70-73页 |
4.2 材料与方法 | 第73-90页 |
4.2.1 蛋白结晶条件 | 第73-74页 |
4.2.2 基于聚亚酰胺薄膜的原位蒸汽扩散法结晶方式 | 第74-79页 |
4.2.3 基于聚亚酰胺薄膜三明治原位结晶方式 | 第79-82页 |
4.2.4 聚亚酰胺薄膜条带晶体原位生长 | 第82-85页 |
4.2.5 常温数据收集 | 第85-88页 |
4.2.6 低温数据收集 | 第88-89页 |
4.2.7 数据处理 | 第89-90页 |
4.3 结果 | 第90-99页 |
4.3.1 原位的结晶与数据收集聚亚酰胺薄膜三明治板 | 第90-92页 |
4.3.2 母液蒸发 | 第92-94页 |
4.3.3 晶体质量筛选 | 第94-95页 |
4.3.4 数据质量与结构探测 | 第95-98页 |
4.3.5 室温下的数据收集策略 | 第98-99页 |
4.4 讨论 | 第99-101页 |
4.5 小结 | 第101-102页 |
第5章 结论与展望 | 第102-104页 |
参考文献 | 第104-109页 |
附录一 | 第109-110页 |
致谢 | 第110-111页 |
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第111页 |