| 摘要 | 第3-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 差分测试方法 | 第11页 |
| 1.2.2 虚拟暗室理论 | 第11-12页 |
| 1.2.3 时域实时EMI测试 | 第12-13页 |
| 1.2.4 小波剔除环境噪声技术 | 第13-14页 |
| 1.3 论文组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 电磁兼容现场测试研究 | 第15-31页 |
| 2.1 标准电磁兼容测试 | 第15-16页 |
| 2.2 现场电磁兼容测试 | 第16-17页 |
| 2.3 现场测试存在的问题 | 第17-18页 |
| 2.3.1 现场辐射发射测试存在的主要问题 | 第17页 |
| 2.3.2 现场测试中的主要噪声 | 第17-18页 |
| 2.4 电磁屏蔽原理分析 | 第18-27页 |
| 2.4.1 电屏蔽 | 第18-21页 |
| 2.4.2 磁屏蔽 | 第21-23页 |
| 2.4.3 电磁屏蔽 | 第23页 |
| 2.4.4 反射损耗 | 第23-25页 |
| 2.4.5 吸收损耗 | 第25-26页 |
| 2.4.6 多重反射损耗 | 第26-27页 |
| 2.5 非全屏蔽式辐射发射测试系统分析 | 第27-30页 |
| 2.5.1 非全屏蔽式辐射发射测试系统概述 | 第27-28页 |
| 2.5.2 信号接收系统 | 第28页 |
| 2.5.3 信号处理系统 | 第28-29页 |
| 2.5.4 背景噪声抑制系统 | 第29-30页 |
| 2.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 非全屏蔽式辐射发射测试装置仿真分析 | 第31-62页 |
| 3.1 仿真建模 | 第31-32页 |
| 3.2 非全屏蔽箱体内部吸波材料设计 | 第32-39页 |
| 3.2.1 电磁波入射角度对吸波材料损耗特性的影响 | 第33-39页 |
| 3.3 非全屏蔽箱体内部电场分布规律研究 | 第39-47页 |
| 3.3.1 电磁波对不同媒质分界平面的垂直入射 | 第40-41页 |
| 3.3.2 辐射电磁场在箱体内部电场分布 | 第41-43页 |
| 3.3.3 辐射电磁场在非全屏蔽箱体内部驻波比 | 第43-44页 |
| 3.3.4 背景噪声在箱体内部电场分布的影响 | 第44-47页 |
| 3.4 不同入射角度对非全屏蔽箱体内部电场分布影响 | 第47-56页 |
| 3.4.1 电磁波对媒质的斜入射 | 第47-48页 |
| 3.4.2 辐射电磁场入射角度对箱体内部电场分布影响 | 第48-53页 |
| 3.4.3 背景噪声入射角度对箱体内部电场分布的影响 | 第53-56页 |
| 3.5 测量天线接收端场强分布分析 | 第56-60页 |
| 3.5.1 辐射电磁场在测量天线接收端的场强分布 | 第56-58页 |
| 3.5.2 背景噪声在测量天线接收端的场强分布分析 | 第58-60页 |
| 3.6 本章小结 | 第60-62页 |
| 第四章 非全屏蔽式辐射发射测试装置相关有效实验验证 | 第62-77页 |
| 4.1 硬件系统 | 第62-66页 |
| 4.1.1 非全屏蔽箱体 | 第62页 |
| 4.1.2 列车等效模型 | 第62-63页 |
| 4.1.3 背景噪声源 | 第63-64页 |
| 4.1.4 测量天线 | 第64-65页 |
| 4.1.5 频谱分析仪 | 第65-66页 |
| 4.2 非全屏蔽箱体内部电场分布实验验证 | 第66-71页 |
| 4.2.1 辐射电磁场在箱体内部电场分布测试验证 | 第66-69页 |
| 4.2.2 辐射电磁场入射角度对屏蔽箱体电场分布测试验证 | 第69-71页 |
| 4.3 测量天线接收端处场强分布规律验证 | 第71-75页 |
| 4.3.1 辐射电磁场在测量天线接收端场强分布测试验证 | 第71-72页 |
| 4.3.2 背景噪声在测量天线接收端场强分布测试验证 | 第72-75页 |
| 4.4 加载吸波材料对背景噪声抑制效果的影响实验验证 | 第75-76页 |
| 4.5 本章小结 | 第76-77页 |
| 第五章 结论 | 第77-79页 |
| 5.1 工作总结 | 第77-78页 |
| 5.2 工作展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第84页 |
