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基于STM32的三轴磁通门磁强计研究

摘要第4-5页
abstract第5-6页
第一章 绪论第11-15页
    1.1 研究背景第11-12页
    1.2 磁通门磁强计发展简史、研究现状与趋势第12-13页
    1.3 主要研究内容与本文结构第13-15页
第二章 磁通门磁强计基本原理及系统组成第15-23页
    2.1 磁通门磁强计的数学模型与原理分析第15-17页
    2.2 磁通门传感器探头第17-20页
        2.2.1 磁通门传感器探头的具体结构第17-18页
        2.2.2 磁通门传感器线圈参数设置第18-19页
        2.2.3 探头噪声分析第19-20页
    2.3 测量方法选择与电路系统第20-21页
        2.3.1 测量方法第20页
        2.3.2 电路系统第20-21页
    2.4 三轴磁通门磁强计的工作原理第21-22页
    2.5 本章小结第22-23页
第三章 磁通门磁强计硬件电路设计第23-41页
    3.1 电源电路第23-25页
    3.2 主控模块第25-30页
        3.2.1 STM32F103RCT6最小系统第26-28页
        3.2.2 STM32外设功能第28页
        3.2.3 辅助电路第28-30页
    3.3 激励电路第30-33页
        3.3.1 激励信号的选择第30-31页
        3.3.2 分频电路第31-32页
        3.3.3 功率放大电路第32-33页
    3.4 感应电路第33-40页
        3.4.1 选频放大电路第33-35页
        3.4.2 相敏检波电路第35-38页
        3.4.3 平滑滤波电路第38-39页
        3.4.4 电压转换电路第39-40页
    3.5 本章小结第40-41页
第四章 软件系统设计第41-47页
    4.1 PWM波产生程序第42-43页
    4.2 A/D采样模块第43-44页
    4.3 上位机串口通信第44-45页
    4.4 本章小结第45-47页
第五章 磁通门磁强计整机测试与分析第47-66页
    5.1 FGM_V1型磁通门磁强计实物第47-49页
    5.2 磁通门磁强计硬件电路调试第49-55页
        5.2.1 系统电源电路测试第49-50页
        5.2.2 激励电路测试第50-53页
        5.2.3 感应电路测试第53-55页
    5.3 上位机通信测试第55-57页
        5.3.1 数据传输测试第55-57页
        5.3.2 波特率测试第57页
    5.4 磁通门磁强计测试第57-65页
        5.4.1 功耗测试第57-58页
        5.4.2 数据测试与分析第58-65页
    5.5 本章小结第65-66页
第六章 总结与展望第66-68页
    6.1 本文工作总结第66-67页
    6.2 未来工作展望第67-68页
参考文献第68-71页
附录第71-72页
致谢第72-73页

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