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基于注入锁定技术的锁相环、倍频器和分频器的研究与设计

摘要第3-4页
Abstract第4页
第一章 绪论第8-14页
    1.1 课题背景第8-11页
    1.2 论文的主要工作和贡献第11-12页
    1.3 论文的组织结构第12页
    参考文献第12-14页
第二章 注入锁定基础第14-25页
    2.1 注入锁定概述第14页
    2.2 注入锁定压控振荡器第14-23页
        2.2.1 注入锁定压控振荡器的模型第14-15页
        2.2.2 锁定范围第15-17页
        2.2.3 注入锁定VCO的动态特性第17-19页
        2.2.4 注入锁定振荡器相噪第19-23页
            2.2.4.1 时域分析第19-20页
            2.2.4.2 频域分析第20-23页
    参考文献第23-25页
第三章 注入锁定锁相环的指标和架构第25-34页
    3.1 锁相环频率综合器综述第25-27页
    3.2 锁相环频率综合器的主要性能指标第27-30页
        3.2.1 相位噪声第27-28页
        3.2.2 时钟抖动第28-29页
        3.2.3 锁定时间第29-30页
    3.3 频率综合器结构分析第30-32页
    参考文献第32-34页
第四章 注入锁定锁相环的环路参数设计第34-49页
    4.1 锁相环环路设计概述第34页
    4.2 PLLs域线性时不变模型第34-37页
    4.3 PLL的动态特性第37页
    4.4 PLL的噪声特性第37-42页
        4.4.1 PFD和CP的噪声第37-38页
        4.4.2 参考时钟杂散第38-39页
        4.4.3 环路滤波器噪声第39页
        4.4.4 压控振荡器噪声第39-40页
        4.4.5 分频器噪声第40-41页
        4.4.6 PLL的相位噪声模型第41-42页
    4.5 环路参数选取第42-44页
    4.6 注入锁定PLL的相位噪声模型第44-47页
    参考文献第47-49页
第五章 注入锁定频率综合器的电路设计第49-68页
    5.1 注入锁定VCO第49-56页
        5.1.1 VCO架构选择第50-51页
        5.1.2 VCO电路设计第51-54页
        5.1.3 脉冲产生电路设计第54-56页
    5.2 环路锁定分析第56-58页
    5.3 分频器设计和分析第58-61页
    5.4 PFD/CP设计第61-64页
    5.5 小结第64-66页
    参考文献第66-68页
第六章 注入锁定倍频器第68-72页
    6.1 倍频器设计第68-69页
    6.2 级联仿真结果第69-71页
    参考文献第71-72页
第七章 注入锁定分频器第72-85页
    7.1 传统注入锁定分频器原理和问题分析第72-75页
    7.2 本文所提出的注入锁定分频器电路设计第75-79页
        7.2.1 基于电流复用技术的振荡器第76-77页
        7.2.2 锁定范围分析第77-78页
        7.2.3 正向偏置技术第78-79页
    7.3 版图实现和仿真结果第79-82页
    7.4 结论第82页
    参考文献第82-85页
第八章 总结与展望第85-87页
    8.1 论文总结第85页
    8.2 未来展望第85-86页
    参考文献第86-87页
致谢第87-88页
攻读学位期间取得的研究成果第88-89页

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