基于注入锁定技术的锁相环、倍频器和分频器的研究与设计
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
第一章 绪论 | 第8-14页 |
1.1 课题背景 | 第8-11页 |
1.2 论文的主要工作和贡献 | 第11-12页 |
1.3 论文的组织结构 | 第12页 |
参考文献 | 第12-14页 |
第二章 注入锁定基础 | 第14-25页 |
2.1 注入锁定概述 | 第14页 |
2.2 注入锁定压控振荡器 | 第14-23页 |
2.2.1 注入锁定压控振荡器的模型 | 第14-15页 |
2.2.2 锁定范围 | 第15-17页 |
2.2.3 注入锁定VCO的动态特性 | 第17-19页 |
2.2.4 注入锁定振荡器相噪 | 第19-23页 |
2.2.4.1 时域分析 | 第19-20页 |
2.2.4.2 频域分析 | 第20-23页 |
参考文献 | 第23-25页 |
第三章 注入锁定锁相环的指标和架构 | 第25-34页 |
3.1 锁相环频率综合器综述 | 第25-27页 |
3.2 锁相环频率综合器的主要性能指标 | 第27-30页 |
3.2.1 相位噪声 | 第27-28页 |
3.2.2 时钟抖动 | 第28-29页 |
3.2.3 锁定时间 | 第29-30页 |
3.3 频率综合器结构分析 | 第30-32页 |
参考文献 | 第32-34页 |
第四章 注入锁定锁相环的环路参数设计 | 第34-49页 |
4.1 锁相环环路设计概述 | 第34页 |
4.2 PLLs域线性时不变模型 | 第34-37页 |
4.3 PLL的动态特性 | 第37页 |
4.4 PLL的噪声特性 | 第37-42页 |
4.4.1 PFD和CP的噪声 | 第37-38页 |
4.4.2 参考时钟杂散 | 第38-39页 |
4.4.3 环路滤波器噪声 | 第39页 |
4.4.4 压控振荡器噪声 | 第39-40页 |
4.4.5 分频器噪声 | 第40-41页 |
4.4.6 PLL的相位噪声模型 | 第41-42页 |
4.5 环路参数选取 | 第42-44页 |
4.6 注入锁定PLL的相位噪声模型 | 第44-47页 |
参考文献 | 第47-49页 |
第五章 注入锁定频率综合器的电路设计 | 第49-68页 |
5.1 注入锁定VCO | 第49-56页 |
5.1.1 VCO架构选择 | 第50-51页 |
5.1.2 VCO电路设计 | 第51-54页 |
5.1.3 脉冲产生电路设计 | 第54-56页 |
5.2 环路锁定分析 | 第56-58页 |
5.3 分频器设计和分析 | 第58-61页 |
5.4 PFD/CP设计 | 第61-64页 |
5.5 小结 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-68页 |
第六章 注入锁定倍频器 | 第68-72页 |
6.1 倍频器设计 | 第68-69页 |
6.2 级联仿真结果 | 第69-71页 |
参考文献 | 第71-72页 |
第七章 注入锁定分频器 | 第72-85页 |
7.1 传统注入锁定分频器原理和问题分析 | 第72-75页 |
7.2 本文所提出的注入锁定分频器电路设计 | 第75-79页 |
7.2.1 基于电流复用技术的振荡器 | 第76-77页 |
7.2.2 锁定范围分析 | 第77-78页 |
7.2.3 正向偏置技术 | 第78-79页 |
7.3 版图实现和仿真结果 | 第79-82页 |
7.4 结论 | 第82页 |
参考文献 | 第82-85页 |
第八章 总结与展望 | 第85-87页 |
8.1 论文总结 | 第85页 |
8.2 未来展望 | 第85-86页 |
参考文献 | 第86-87页 |
致谢 | 第87-88页 |
攻读学位期间取得的研究成果 | 第88-89页 |