致谢 | 第7-8页 |
摘要 | 第8-9页 |
Abstract | 第9页 |
第一章 绪论 | 第14-21页 |
1.1 论文研究背景 | 第14-15页 |
1.2 国内外发展现状 | 第15-18页 |
1.2.1 近景摄影测量 | 第15-17页 |
1.2.2 相机检校发展 | 第17-18页 |
1.3 研究目标 | 第18-19页 |
1.4 研究内容 | 第19页 |
1.5 论文的结构安排 | 第19-20页 |
1.6 本章小结 | 第20-21页 |
第二章 普通数码相机结构稳定性研究 | 第21-33页 |
2.1 摄影测量设备 | 第21-26页 |
2.1.1 专业摄影测量相机 | 第21-23页 |
2.1.2 常见的普通数码相机 | 第23-26页 |
2.2 专业量测相机与普通数码相机比较 | 第26-27页 |
2.3 普通数码相机结构稳定性分析 | 第27-32页 |
2.3.1 Lensphoto系统 | 第28页 |
2.3.2 普通数码相机结构稳定性测试 | 第28-30页 |
2.3.3 结果分析 | 第30-32页 |
2.4 本章小结 | 第32-33页 |
第三章 数码相机检校 | 第33-46页 |
3.1 概述 | 第33页 |
3.2 近景摄影测量理论基础 | 第33-38页 |
3.2.1 近景摄影测量常用坐标系 | 第33-34页 |
3.2.2 像方坐标系 | 第34-35页 |
3.2.3 物方空间坐标系 | 第35页 |
3.2.4 像片的内方位元素和外方位元素 | 第35-36页 |
3.2.5 共线条件方程 | 第36-38页 |
3.3 数码相机检校方法 | 第38-44页 |
3.3.1 相机构像畸变差特性 | 第39-40页 |
3.3.2 三维控制的数码相机检校方法 | 第40-42页 |
3.3.3 二维控制的数码相机检校方法 | 第42-44页 |
3.3.4 两种控制场的比较 | 第44页 |
3.4 本章小结 | 第44-46页 |
第四章 二维控制的数码相机分步检校 | 第46-64页 |
4.1 二维控制的数码相机检校的参数相关性分析 | 第46-53页 |
4.1.1 SZ与f的相关性分析 | 第48-50页 |
4.1.2 ( x_0, y_0) 和 (X_s ,Y_s )相关性分析 | 第50-53页 |
4.2 参数之间的相关系数量度 | 第53-54页 |
4.3 二维控制的数码相机分步检校方法 | 第54-63页 |
4.3.1 直线参数的解算 | 第54-55页 |
4.3.2 畸变参数的解算 | 第55-57页 |
4.3.3 内方位元素检校 | 第57-63页 |
4.4 本章小结 | 第63-64页 |
第五章 实验分析 | 第64-70页 |
5.1 影像获取 | 第64-65页 |
5.2 影像计算处理 | 第65-67页 |
5.3 结果分析 | 第67-69页 |
5.4 本章小结 | 第69-70页 |
第六章 总结与展望 | 第70-73页 |
6.1 总结 | 第70-72页 |
6.2 展望 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |
附录 1 | 第76-78页 |
攻读硕士学位期间的学术成果 | 第78-79页 |