| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| Contents | 第9-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| ·课题的研究背景与意义 | 第12-13页 |
| ·MCR的特点与应用 | 第13-15页 |
| ·损耗产生的原因与危害 | 第15页 |
| ·国内外损耗的研究现状与研究趋势 | 第15-18页 |
| ·国内外损耗的研究现状 | 第15-17页 |
| ·MCR损耗研究的方向与趋势 | 第17-18页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第二章 磁控电抗器的原理及损耗机理分析 | 第20-39页 |
| ·磁控电抗器结构、原理及工作特性 | 第20-25页 |
| ·结构与原理 | 第20-23页 |
| ·MCR的特性分析 | 第23-25页 |
| ·磁控电抗器的损耗机理分析 | 第25-37页 |
| ·铁芯的磁滞损耗与涡流损耗的机理 | 第27-33页 |
| ·空载附加损耗机理 | 第33页 |
| ·绕组的电阻损耗的机理 | 第33-35页 |
| ·半导体器件的损耗 | 第35页 |
| ·漏磁场产生的机理及杂散损耗 | 第35-37页 |
| ·磁控电抗器与变压器损耗计算的区别 | 第37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第三章 磁控电抗器损耗问题的数值计算 | 第39-68页 |
| ·磁控电抗器的仿真样机介绍 | 第39-41页 |
| ·磁控电抗器损耗建模及其数值计算 | 第41-50页 |
| ·交变磁场作用下经典的磁滞模型 | 第41-43页 |
| ·磁滞模型的优化与编程实现 | 第43-45页 |
| ·MCR磁阀与铁芯柱的饱和特性分析 | 第45-46页 |
| ·MCR支路电流和磁滞回线的编程计算 | 第46-48页 |
| ·磁控电抗器的总损耗计算 | 第48-50页 |
| ·基于Ansoft有限元的MCR电磁场与损耗分析 | 第50-67页 |
| ·电磁场分析的基本理论 | 第50-52页 |
| ·有限元方法在电磁场分析中的应用 | 第52-53页 |
| ·Ansoft/Maxwell仿真软件及仿真方法 | 第53-55页 |
| ·磁控电抗器损耗问题描述 | 第55页 |
| ·几何建模并定义分析类型 | 第55-56页 |
| ·分配电抗器材料属性 | 第56-57页 |
| ·设置MCR模型边界条件 | 第57页 |
| ·通过外电路场路耦合添加激励源 | 第57-59页 |
| ·划分模型网格 | 第59页 |
| ·求解处理器的设置 | 第59页 |
| ·磁场与损耗的结果观察 | 第59-61页 |
| ·磁控电抗器内各部件的损耗分析 | 第61-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第四章 磁控电抗器的设计计算与降损优化措施 | 第68-86页 |
| ·磁控电抗器主要部件的设计计算 | 第68-74页 |
| ·铁芯直径的计算 | 第69-70页 |
| ·磁阀结构尺寸的计算 | 第70-71页 |
| ·工作绕组匝数与抽头比的计算 | 第71-72页 |
| ·电抗器油箱尺寸的计算 | 第72-73页 |
| ·电抗器漏抗的计算 | 第73-74页 |
| ·通过优化铁芯与绕组降低电抗器损耗 | 第74-81页 |
| ·优化磁阀结构以减少横向漏磁通 | 第74-76页 |
| ·优化绕组排列相序以降低铁轭损耗 | 第76-79页 |
| ·优化硅钢片选材与结构降低铁磁材料损耗 | 第79-81页 |
| ·通过减小漏磁通降低金属构件的涡流损耗 | 第81-85页 |
| ·漏磁场的求解模型及分析 | 第81-83页 |
| ·屏蔽结构的提出及在降低损耗的应用 | 第83-85页 |
| ·本章小结 | 第85-86页 |
| 第五章 MCR的损耗特性试验及降损措施的有效性验证 | 第86-97页 |
| ·试验系统说明 | 第86页 |
| ·试验设备说明 | 第86-87页 |
| ·MCR控制系统的功能性试验 | 第87-90页 |
| ·晶闸管触发脉冲的精确控制 | 第87-88页 |
| ·晶闸管和二极管波形导通顺序 | 第88-89页 |
| ·偏磁状态下的柱电流波形 | 第89-90页 |
| ·磁控电抗器的损耗特性试验 | 第90-96页 |
| ·MCR的工作电流与触发角的关系 | 第90-91页 |
| ·MCR的损耗与触发角的关系 | 第91-92页 |
| ·MCR内部主要部件的损耗分布 | 第92-94页 |
| ·不同铁轭高度下的损耗试验及分析 | 第94页 |
| ·不同形状的磁阀结构下的损耗试验及分析 | 第94-95页 |
| ·不同绕组排列顺序下的损耗试验及分析 | 第95-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 结论与展望 | 第97-98页 |
| 参考文献 | 第98-102页 |
| 研究生期间发表论文 | 第102-103页 |
| 研究生期间参与科研项目 | 第103-105页 |
| 致谢 | 第105页 |