超声逆散射层析成像关键技术研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 绪论 | 第10-17页 |
·引言 | 第10页 |
·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
·超声 CT 成像的研究发展现状 | 第11-15页 |
·本文研究内容及结构 | 第15-17页 |
第2章 超声逆散射方程的建立 | 第17-27页 |
·波动方程的建立过程 | 第17-19页 |
·超声逆散射方程的建立 | 第19-26页 |
·在均匀介质中的齐次波动方程 | 第19-20页 |
·在非均匀介质中的非齐次波动方程 | 第20-22页 |
·矩量法 | 第22-23页 |
·矩量法对超声全场与散射场方程的离散化过程 | 第23-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第3章 超声逆散射方程的非线性问题 | 第27-38页 |
·非线性问题的提出 | 第27-28页 |
·波动方程近似 | 第28-31页 |
·Born 近似 | 第28-29页 |
·Rytov 近似 | 第29-31页 |
·超声逆散射方程非线性问题的求解 | 第31-33页 |
·Born 迭代(简称 BI) | 第31-32页 |
·变形 Born 迭代(简称 DBI) | 第32-33页 |
·实验仿真结果与分析 | 第33-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第4章 超声逆散射方程的正则化问题 | 第38-48页 |
·不适定性问题的提出 | 第38-39页 |
·奇异值分解和最小二乘问题 | 第39-41页 |
·正则化方法 | 第41-44页 |
·Tikhonov 方法 | 第41-42页 |
·TSVD 方法 | 第42-43页 |
·TTLS 方法 | 第43-44页 |
·正则化参数的选择策略 | 第44-47页 |
·L 曲线方法 | 第44-45页 |
·参数的具体选择过程 | 第45-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第5章 正则化可信度的判别与正则化结果分析 | 第48-61页 |
·正则化可信度问题 | 第48-53页 |
·Picard 准则 | 第48-51页 |
·实验仿真模型的 Picard 曲线及其分析 | 第51-53页 |
·实验模型的建立 | 第53-55页 |
·正则化结果与分析 | 第55-60页 |
·TSVD 正则化方法仿真结果 | 第56-57页 |
·TTLS 正则化方法仿真结果 | 第57-58页 |
·仿真数据的比较分析及结论 | 第58-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第6章 总结与展望 | 第61-63页 |
·本文总结 | 第61-62页 |
·未来展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
攻读硕士期间发表学术论文情况 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-69页 |