基于智能卡芯片的一种自动化测试方法

摘要	第1-4页
ABSTRACT	第4-7页
第一章 绪论	第7-11页
·研究背景、意义及现状	第7-8页
·本文的工作重点和内容安排	第8-11页
第二章 智能卡自动化测试系统	第11-19页
·智能卡测试系统的背景知识介绍	第11-13页
·智能卡自动化测试系统架构	第13-16页
·测试系统的结构	第13-15页
·测试系统的流程	第15-16页
·测试系统的特点	第16页
·芯片的 FPGA 验证流程	第16-18页
·本章小结	第18-19页
第三章 测试平台的软件架构	第19-41页
·测试平台的组成	第19-20页
·测试平台的软件架构	第20-22页
·软件架构的具体实现	第22-37页
·SCI7816 接口模块	第22-27页
·RF 接口模块	第27-30页
·非接口模块	第30-37页
·智能卡的测试流程	第37-39页
·本章小结	第39-41页
第四章 测试平台的自动化实现	第41-61页
·ARM 异常中断	第41-54页
·复位异常中断的情况	第43-46页
·指令预取中止异常中断的情况	第46-48页
·数据访问中止异常中断的情况	第48-50页
·外部中断请求(IRQ)异常中断的情况	第50-52页
·快速中断请求(FIQ)异常中断的情况	第52-54页
·从测试模式进入到用户模式	第54-58页
·在 E2 和 RAM 中执行程序的测试	第58-59页
·本章小结	第59-61页
第五章 总结与展望	第61-65页
·工作总结	第61-62页
·不足之处	第62-63页
·今后工作展望	第63-65页
致谢	第65-67页
参考文献	第67-69页