| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-27页 |
| ·FPGA 概述 | 第9-13页 |
| ·FPGA 的结构特点 | 第9-10页 |
| ·FPGA 中可编程技术的实现 | 第10-11页 |
| ·FPGA 的核心设计流程 | 第11-13页 |
| ·单粒子效应概述 | 第13-18页 |
| ·空间辐射环境 | 第14页 |
| ·单粒子效应的物理过程 | 第14-16页 |
| ·单粒子效应的表征方法 | 第16-18页 |
| ·SRAM 型 FPGA 的单粒子效应 | 第18-25页 |
| ·失效模式分析 | 第19-20页 |
| ·加固技术研究 | 第20-22页 |
| ·评估技术研究 | 第22-25页 |
| ·论文的组织结构和研究方法 | 第25-27页 |
| 第2章 SRAM 型 FPGA 的单粒子效应测试技术研究 | 第27-47页 |
| ·系统的测试原理 | 第27-33页 |
| ·内部存储器测试方案 | 第28-31页 |
| ·系统的功能测试方案 | 第31-32页 |
| ·功耗电流测试方案 | 第32-33页 |
| ·系统的软硬件实现方案 | 第33-38页 |
| ·系统的硬件设计 | 第33-34页 |
| ·系统的软件设计 | 第34-37页 |
| ·系统的实验室验证 | 第37-38页 |
| ·静态单粒子效应试验 | 第38-46页 |
| ·试验情况简介 | 第39-40页 |
| ·试验数据分析与讨论 | 第40-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第3章 SRAM 型 FPGA 的故障注入方法研究 | 第47-68页 |
| ·故障注入方法的设计与实现 | 第47-53页 |
| ·Xilinx FPGA 的部分重构技术 | 第48-49页 |
| ·部分重构的配置文件格式 | 第49-52页 |
| ·故障注入系统的软硬件设计 | 第52-53页 |
| ·故障注入工具的试验验证 | 第53-63页 |
| ·基准测试电路的设计 | 第53-54页 |
| ·故障注入实验 | 第54-58页 |
| ·动态单粒子效应试验 | 第58-63页 |
| ·故障注入方法的应用实例 | 第63-67页 |
| ·三模冗余的有效性验证 | 第63-64页 |
| ·空间轨道失效率的预估 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第4章 Virtex 系列 FPGA 的配置文件解码 | 第68-81页 |
| ·Virtex 系列 FPGA 的底层结构 | 第69-71页 |
| ·配置文件的周期性组织方式 | 第71-72页 |
| ·CLB 和 IOB 内部资源的解码方法 | 第72-76页 |
| ·CLB 中可配置资源的分类解码 | 第76-79页 |
| ·其他可配置资源的分类解码 | 第79-80页 |
| ·本章小结 | 第80-81页 |
| 第5章 FPGA 单粒子失效分析程序的设计与实现 | 第81-102页 |
| ·网表解析器的设计 | 第83-88页 |
| ·xdl 网表的语法 | 第84页 |
| ·xdl 网表的解析 | 第84-88页 |
| ·故障传播规则的定义 | 第88-95页 |
| ·一般设计的故障传播规则 | 第88-93页 |
| ·TMR 设计的故障传播规则 | 第93-95页 |
| ·解码信息数据库的建立 | 第95-98页 |
| ·失效分析程序的验证 | 第98-101页 |
| ·本章小结 | 第101-102页 |
| 第6章 结论与展望 | 第102-105页 |
| ·主要贡献和创新点 | 第102-103页 |
| ·主要研究结论 | 第103-104页 |
| ·下一步研究方向 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-112页 |
| 致谢 | 第112-114页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第114页 |
