| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-10页 |
| 1 研究对象-RFID 芯片及其测试要求 | 第10-21页 |
| ·RFID 技术的应用现状和研究意义 | 第10-13页 |
| ·RFID 系统介绍 | 第10-11页 |
| ·RFID 技术优势和应用现状 | 第11-12页 |
| ·研究意义 | 第12-13页 |
| ·RFID 芯片和测试要求 | 第13-19页 |
| ·芯片的工作原理 | 第13-14页 |
| ·芯片的分类和ISO 标准 | 第14-16页 |
| ·测试要求和技术难点 | 第16-19页 |
| ·研究目标和任务 | 第19-21页 |
| ·ISO 国际规范以及向量文件的生成方式 | 第19页 |
| ·RF 功能测试要求和实现方法 | 第19页 |
| ·芯片内部微小电容（调谐电容）的工程/量产测试实现 | 第19-20页 |
| ·提高芯片量产的良品率，解决同测时的串扰和非同步问题 | 第20-21页 |
| 2 整体解决方案 | 第21-34页 |
| ·全体测试项目 | 第21-22页 |
| ·RF 测试模块 | 第22-30页 |
| ·功能概要 | 第22-23页 |
| ·模块方块图 | 第23-24页 |
| ·RF 信号发生部分 | 第24-26页 |
| ·RF 信号接收/识别部分 | 第26-28页 |
| ·精度矫正 | 第28-29页 |
| ·诊断 | 第29-30页 |
| ·模块式样及小结 | 第30页 |
| ·调谐电容测试的设计方案 | 第30-32页 |
| ·工程测试的解决方案 | 第31页 |
| ·生产测试的解决方案 | 第31-32页 |
| ·整体解决方案 | 第32-34页 |
| 3 工程测试实例 | 第34-51页 |
| ·芯片式样 | 第34-38页 |
| ·工程封装及各管脚定义 | 第34-37页 |
| ·测试任务及方案 | 第37-38页 |
| ·测试项目详细及测试结果 | 第38-51页 |
| ·调谐电容 | 第38-41页 |
| ·片内电源（VDDI）和参考电压（VREF）精度 | 第41页 |
| ·信号频率特性 | 第41-42页 |
| ·上电复位信号（PowerOnReset） | 第42-43页 |
| ·时钟测量（CLK） | 第43-45页 |
| ·功能指令测试（REQB）/载波调制（ASK）系数 | 第45-49页 |
| ·负载调制（BPSK）调制深度 | 第49-50页 |
| ·小结和问题点 | 第50-51页 |
| 4 量产测试实例 | 第51-65页 |
| ·测试对象 | 第51-54页 |
| ·测试任务 | 第51-52页 |
| ·整体解决方案 | 第52-54页 |
| ·测试项目详细及测试结果 | 第54-63页 |
| ·RC 电路测试法原理 | 第54-56页 |
| ·RC 电路测试法实验结果及分析 | 第56-59页 |
| ·RF 功能测试的同测扩展 | 第59-63页 |
| ·测试时间的测试效率问题 | 第63-65页 |
| 5 总结 | 第65-66页 |
| ·获得的成果 | 第65页 |
| ·今后的方向 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第71-73页 |
