摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第6-8页 |
图表目录 | 第8-9页 |
第1章 绪论 | 第9-12页 |
§1.1 当前微控制器设计和混合信号设计的潮流 | 第9-10页 |
§1.1.1 八位微处理器的发展 | 第9-10页 |
§1.1.2 混合信号设计 | 第10页 |
§1.2 本文工作内容 | 第10-12页 |
第2章 设计方法论 | 第12-16页 |
§2.1 设计流程 | 第12-13页 |
§2.2 设计平台 | 第13-16页 |
第3章 微处理器的系统设计 | 第16-38页 |
§3.1 指令集体系结构(ISA) | 第16-21页 |
§3.1.1 指令集分析 | 第16-17页 |
§3.1.2 系统架构 | 第17-21页 |
§3.2 数据通道设计 | 第21-27页 |
§3.3 存储器设计 | 第27-29页 |
§3.3.1 寄存器 | 第27-29页 |
§3.3.2 寄存器重映象 | 第29页 |
§3.4 流水线 | 第29-31页 |
§3.5 控制译码以及中断控制器设计 | 第31-34页 |
§3.5.1 中断控制器 | 第31-33页 |
§3.5.2 译码控制器 | 第33-34页 |
§3.6 时序及低功耗设计 | 第34-38页 |
§3.6.1 时序设计 | 第34-35页 |
§3.6.2 低功耗设计 | 第35-37页 |
§3.6.3 定时器与看门狗 | 第37-38页 |
第4章 仿真验证 | 第38-44页 |
§4.1 软件功能验证 | 第38-42页 |
§4.1.1 C语言原型(C原型) | 第39-40页 |
§4.1.2 随机指令发生器 | 第40-41页 |
§4.1.3 验证结果 | 第41-42页 |
§4.2 硬件验证 | 第42-44页 |
第5章 综合,数字后端工作 | 第44-52页 |
§5.1 综合策略 | 第44-45页 |
§5.2 综合过程 | 第45-47页 |
§5.3 Design For Test(DFT) | 第47-48页 |
§5.4 布局布线 | 第48-49页 |
§5.5 后端验证 | 第49-52页 |
第6章 混合信号仿真 | 第52-57页 |
§6.1 混合信号仿真平台 | 第52-53页 |
§6.2 集成A/D转换器的MCU | 第53-54页 |
§6.3 混和信号仿真 | 第54-57页 |
第7章 成果与展望 | 第57-59页 |
§7.1 成果 | 第57-58页 |
§7.2 展望 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-62页 |
附录 | 第62-69页 |
附录A EM780156的指令集 | 第62-64页 |
附录B 综合脚本 | 第64-67页 |
文件 synopsys_dc.setup | 第64页 |
文件 read_src.tcl | 第64-65页 |
文件 constraint.tcl | 第65-67页 |
附录C 综合报告 | 第67-68页 |
附录D ctgen.constraint | 第68-69页 |