中文摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-15页 |
·手机翻盖测试技术的发展 | 第8-12页 |
·测试技术的分类、应用及发展 | 第8-11页 |
·手机翻盖分类及手机翻盖测试技术的发展 | 第11-12页 |
·T720 手机翻盖测试系统研究意义 | 第12-13页 |
·本课题研究内容及安排 | 第13-15页 |
第二章 T720 手机翻盖测试系统 | 第15-29页 |
·T720 手机翻盖简介及翻盖测试内容确定 | 第15-19页 |
·T720 手机翻盖结构及功能 | 第15-16页 |
·T720 手机翻盖工作原理简介 | 第16-17页 |
·T720 手机翻盖性能要求 | 第17-18页 |
·T720 手机翻盖测试内容确定 | 第18-19页 |
·T720 手机翻盖测试系统控制方式分析 | 第19-20页 |
·单片机驱动方式 | 第19-20页 |
·微机控制方式 | 第20页 |
·T720 手机翻盖测试系统构成 | 第20-22页 |
·T720 手机翻盖测试系统设计 | 第22-29页 |
·主机及测试结果输出子系统 | 第22-23页 |
·机械结构设计 | 第23页 |
·显示测试子系统 | 第23-24页 |
·振子与电流测试子系统 | 第24-25页 |
·扬声器测试子系统 | 第25-29页 |
第三章 T720 手机翻盖测试系统机械结构 | 第29-40页 |
·T720 手机翻盖测试系统机械结构方案 | 第29-33页 |
·T720 手机翻盖测试系统翻盖式结构 | 第29-30页 |
·T720 手机翻盖测试系统转台式结构 | 第30-32页 |
·T720 手机翻盖测试系统抽屉式结构 | 第32页 |
·T720 手机翻盖测试系统机械结构方案优选 | 第32-33页 |
·T720 手机翻盖测试系统机械结构设计 | 第33-40页 |
·箱体机械结构 | 第33-34页 |
·箱体色调及操作按钮设计 | 第34-35页 |
·抽屉机械结构 | 第35-37页 |
·夹具机械结构 | 第37-39页 |
·气动元器件的选用 | 第39-40页 |
第四章 T720 手机翻盖测试系统接口结构 | 第40-48页 |
·手机翻盖上的接口形式 | 第40-41页 |
·V998 及 V8088 手机翻盖的测试接口形式 | 第41-42页 |
·T720 手机翻盖的测试接口方案 | 第42-43页 |
·T720 手机翻盖的探针结构测试接口 | 第43-47页 |
·针套带引线结构的探针接口 | 第43-44页 |
·针套不带引线结构的探针接口 | 第44-45页 |
·双面带弹性的探针的接口结构 | 第45-46页 |
·T720 手机翻盖测试接口结构确定 | 第46页 |
·探针针尖结构确定 | 第46-47页 |
·探针与测试点的对位精度问题 | 第47-48页 |
第五章 T720 手机翻盖测试系统软件 | 第48-52页 |
·T720 手机翻盖测试系统软件结构 | 第48-49页 |
·T720 手机翻盖测试系统软件流程 | 第49页 |
·T720 手机翻盖测试系统软件模块设计 | 第49页 |
·T720 手机翻盖测试系统软件语言选择 | 第49-52页 |
第六章 T720 手机翻盖测试系统的其他问题 | 第52-59页 |
·T720 手机翻盖测试系统研发的工期问题 | 第52-54页 |
·组建项目小组 | 第52-53页 |
·建立自动化 CE 环境 | 第53页 |
·关键路径的优化及任务分工的协调 | 第53-54页 |
·T720 手机翻盖测试软缆结构及测试接口结构的改进 | 第54-55页 |
·T720 手机翻盖测试系统数据干扰问题 | 第55-56页 |
·T720 手机翻盖测试系统的可靠性问题 | 第56-57页 |
·T720 手机翻盖测试系统测试的缺陷遗漏问题 | 第57-59页 |
第七章 结论 | 第59-60页 |
附录 | 第60-67页 |
参考文献 | 第67-70页 |
致谢 | 第70页 |