基于机联网的IF公司OEE系统的建立与应用
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究综述 | 第13-17页 |
| 1.2.1 机联网研究综述 | 第13-14页 |
| 1.2.2 设备管理研究综述 | 第14-15页 |
| 1.2.3 OEE研究综述 | 第15-17页 |
| 1.3 研究内容与技术路线 | 第17-20页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第17-18页 |
| 1.3.2 技术路线 | 第18页 |
| 1.3.3 章节安排 | 第18-20页 |
| 第2章 机联网及OEE系统基本理论 | 第20-31页 |
| 2.1 机联网概述 | 第20-23页 |
| 2.1.1 机联网的概念 | 第20页 |
| 2.1.2 机联网的拓扑结构 | 第20-21页 |
| 2.1.3 机联网的相关技术 | 第21-23页 |
| 2.2 OEE理论基础 | 第23-27页 |
| 2.2.1 设备综合效率的概念 | 第23-25页 |
| 2.2.2 设备综合效率的计算 | 第25-27页 |
| 2.3 OEE系统基本理论 | 第27-31页 |
| 2.3.1 OEE系统的概念 | 第27页 |
| 2.3.2 设备状态再定义 | 第27-30页 |
| 2.3.3 OEE系统的意义 | 第30-31页 |
| 第3章 IF公司OEE系统需求分析 | 第31-41页 |
| 3.1 半导体制造业简介 | 第31-33页 |
| 3.1.1 半导体发展历程概述 | 第31页 |
| 3.1.2 半导体制造流程简介 | 第31-32页 |
| 3.1.3 半导体生产制造特点 | 第32-33页 |
| 3.2 IF公司及其无锡工厂 | 第33-38页 |
| 3.2.1 IF公司简介 | 第33-34页 |
| 3.2.2 主要产品及工艺 | 第34页 |
| 3.2.3 生产规模 | 第34-35页 |
| 3.2.4 设备管理现状 | 第35-38页 |
| 3.3 IF公司OEE系统需求分析 | 第38-41页 |
| 3.3.1 OEE系统总体需求目标 | 第38-39页 |
| 3.3.2 OEE系统功能需求分析 | 第39页 |
| 3.3.3 OEE系统性能需求分析 | 第39-41页 |
| 第4章 基于机联网的OEE系统的设计 | 第41-58页 |
| 4.1 OEE系统业务流程设计 | 第41-42页 |
| 4.2 OEE系统实施架构设计 | 第42-44页 |
| 4.2.1 OEE系统的硬件架构 | 第42-43页 |
| 4.2.2 OEE系统的软件架构 | 第43-44页 |
| 4.3 OEE系统功能模块设计 | 第44-52页 |
| 4.3.1 系统功能结构 | 第44-45页 |
| 4.3.2 数据采集功能模块 | 第45-49页 |
| 4.3.3 数据处理功能模块 | 第49-51页 |
| 4.3.4 数据报表功能模块 | 第51-52页 |
| 4.4 OEE系统数据库设计 | 第52-58页 |
| 4.4.1 主要数据表 | 第52-57页 |
| 4.4.2 数据库关系模型 | 第57-58页 |
| 第5章 OEE系统在IF公司的应用 | 第58-69页 |
| 5.1 OEE系统开发环境 | 第58页 |
| 5.2 OEE系统功能模块实现 | 第58-63页 |
| 5.2.1 数据采集模块实现 | 第58-60页 |
| 5.2.2 数据处理模块实现 | 第60-63页 |
| 5.2.3 数据报表模块实现 | 第63页 |
| 5.3 OEE系统应用案例 | 第63-67页 |
| 5.3.1 设备效率损失分析流程 | 第63-64页 |
| 5.3.2 设备效率损失追踪案例 | 第64-67页 |
| 5.4 OEE系统实施效果分析 | 第67-69页 |
| 第6章 结论与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 研究结论 | 第69页 |
| 6.2 研究展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第75页 |
