| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.2 研究背景 | 第10-13页 |
| 1.3 FPGA内部互连结构测试技术现状 | 第13-15页 |
| 1.4 金属互连线覆盖率测试的必要性 | 第15-16页 |
| 1.5 论文的研究内容 | 第16-17页 |
| 1.6 论文的结构安排 | 第17-18页 |
| 第2章 Virtex系列FPGA内部互连结构建模 | 第18-28页 |
| 2.1 Virtex基本单元模型 | 第18-19页 |
| 2.2 金属互连线类型 | 第19-24页 |
| 2.3 金属互连线资源模型 | 第24-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 Virtex-4系列FPGA内部互连结构测试方法和流程 | 第28-44页 |
| 3.1 确定性故障检测流程 | 第28-30页 |
| 3.2 Virtex-4 X1线资源配置图形生成 | 第30-35页 |
| 3.3 Virtex-4内部金属倍线资源测试方法 | 第35-43页 |
| 3.3.1 深度与广度优先遍历算法 | 第35-38页 |
| 3.3.2 启发式搜索算法 | 第38-39页 |
| 3.3.3 深度优先搜索的应用 | 第39-41页 |
| 3.3.4 二倍线测试路径说明 | 第41-42页 |
| 3.3.5 六倍线测试路径说明 | 第42-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 Virtex-4系列FPGA内部互连结构测试结果与分析 | 第44-61页 |
| 4.1 X1线资源测试覆盖结果 | 第44-46页 |
| 4.2 二倍线测试图形结果 | 第46-48页 |
| 4.3 六倍线测试图形结果 | 第48-50页 |
| 4.4 故障模型及测试向量选择 | 第50-54页 |
| 4.4.1 故障模型 | 第50-52页 |
| 4.4.2 测试向量选择 | 第52-54页 |
| 4.5 测试平台 | 第54-56页 |
| 4.6 测试结果统计与分析 | 第56-60页 |
| 4.7 本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 总结和展望 | 第61-63页 |
| 5.1 全文工作总结 | 第61-62页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第68页 |