| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第8-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 传感器技术 | 第9-12页 |
| 1.2.1 传感器技术概述 | 第9-10页 |
| 1.2.2 电化学传感器概述 | 第10-11页 |
| 1.2.3 电化学检测技术 | 第11-12页 |
| 1.2.4 碳纳米管修饰电极简介 | 第12页 |
| 1.3 分数阶导概述 | 第12-13页 |
| 1.4 支持向量机技术 | 第13-14页 |
| 1.4.1 机器学习概述 | 第13-14页 |
| 1.4.2 支持向量机简介 | 第14页 |
| 1.5 K-means算法概述 | 第14-16页 |
| 1.5.1 K-means算法简介 | 第14-15页 |
| 1.5.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第15-16页 |
| 1.6 研究课题的提出 | 第16页 |
| 1.7 研究目标及内容 | 第16-17页 |
| 1.7.1 研究目标 | 第16页 |
| 1.7.2 研究内容 | 第16-17页 |
| 1.8 技术路线 | 第17-18页 |
| 1.9 论文主要工作及创新点 | 第18-20页 |
| 2 A和Hx的分离实验 | 第20-29页 |
| 2.1 引言 | 第20-21页 |
| 2.2 检测A、Hx传感器件的制备 | 第21-22页 |
| 2.2.1 主要仪器 | 第21页 |
| 2.2.2 修饰电极的预处理 | 第21页 |
| 2.2.3 CMC-fWCNTs/GCE的制备 | 第21-22页 |
| 2.2.4 分离测定 | 第22页 |
| 2.3 传感器件的电化学特性 | 第22-23页 |
| 2.4 参数的优化 | 第23-25页 |
| 2.4.1 扫速的影响 | 第23-24页 |
| 2.4.2 pH的影响 | 第24-25页 |
| 2.5 传感器性能 | 第25-27页 |
| 2.5.1 A、Hx的分离测试 | 第25-27页 |
| 2.5.2 传感器的稳定性 | 第27页 |
| 2.6 小结 | 第27-29页 |
| 3 分数阶导技术实现对A和Hx的双峰预处理 | 第29-33页 |
| 3.1 基于分数阶导的重叠峰的分离 | 第29页 |
| 3.2 基于分数阶导的A、Hx的双峰分离 | 第29-32页 |
| 3.2.1 A、Hx双峰半阶导预处理 | 第30页 |
| 3.2.2 A、Hx稳定性数据的半阶导预处理 | 第30-32页 |
| 3.3 小结 | 第32-33页 |
| 4 基于SVM的A、 Hx检测结果系统的构建 | 第33-37页 |
| 4.1 SVM概述 | 第33页 |
| 4.2 SVM的原理 | 第33-35页 |
| 4.2.1 SVM算法 | 第33-34页 |
| 4.2.2 核函数 | 第34-35页 |
| 4.3 实验仿真 | 第35页 |
| 4.4 系统设计与实现 | 第35-36页 |
| 4.5 小结 | 第36-37页 |
| 5 基于K-means算法的A、Hx稳定性评估 | 第37-41页 |
| 5.1 聚类算法简介 | 第37页 |
| 5.2 K-means算法概述 | 第37页 |
| 5.3 K-means算法原理 | 第37-38页 |
| 5.4 K-means算法实现 | 第38-40页 |
| 5.5 小结 | 第40-41页 |
| 6 A、Hx检测结果与数据稳定性判别系统 | 第41-51页 |
| 6.1 系统开发技术及工具介绍 | 第41-42页 |
| 6.1.1 系统基本技术支持 | 第41页 |
| 6.1.2 开发工具简介 | 第41-42页 |
| 6.2 模型的构建 | 第42-43页 |
| 6.3 A、Hx检测结果判别系统实现 | 第43-48页 |
| 6.3.1 系统设计的思想 | 第43页 |
| 6.3.2 A与Hx的判别系统设计 | 第43-44页 |
| 6.3.3 系统的实现效果及分析 | 第44-48页 |
| 6.4 基于K-means算法的数据稳定性评估的实现 | 第48-49页 |
| 6.5 小结 | 第49-51页 |
| 7 结论与展望 | 第51-53页 |
| 7.1 本文主要工作与研究结论 | 第51-52页 |
| 7.2 未来研究展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 致谢 | 第57页 |