| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 引言 | 第14页 |
| 1.2 Ti_2AlNb基合金及其焊接技术发展现状 | 第14-16页 |
| 1.3 焊接接头微区材料力学性能研究方法 | 第16-19页 |
| 1.3.1 焊接接头微区材料力学性能传统试验研究方法 | 第16-18页 |
| 1.3.2 纳米压痕技术及在材料本构关系研究中的应用 | 第18-19页 |
| 1.4 焊接接头原位疲劳研究现状 | 第19-20页 |
| 1.5 本文的主要研究内容 | 第20-22页 |
| 第二章 Ti_2AlNb焊接接头微区力学性能反演技术研究 | 第22-33页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 基于纳米压痕技术的弹性模量及硬度测量方法 | 第22-23页 |
| 2.3 纳米压痕反演模型建立 | 第23-31页 |
| 2.3.1 通用无量纲函数(?)的构造 | 第24-25页 |
| 2.3.2 本构模型参数的获取 | 第25-27页 |
| 2.3.3 假想材料纳米压入P-h曲线模拟的有限元模型 | 第27页 |
| 2.3.4 有限元模型压头尖端钝化半径R对模拟结果的影响分析 | 第27-28页 |
| 2.3.5 假想材料压入过程有限元模拟结果及分析 | 第28-31页 |
| 2.4 材料微区力学性能反演方法及验证 | 第31-32页 |
| 2.4.1 材料微区力学性能反演流程 | 第31-32页 |
| 2.4.2 反演方法的验证 | 第32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 Ti_2AlNb电子束焊接头微区高温本构关系研究 | 第33-45页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 Ti_2AlNb焊接接头纳米压痕试验 | 第33-36页 |
| 3.2.1 纳米压痕试验材料 | 第33-34页 |
| 3.2.2 纳米压痕试验设备 | 第34-35页 |
| 3.2.3 Ti_2AlNb电子束焊接头纳米压痕试验区域确定 | 第35页 |
| 3.2.4 纳米压痕试验方法 | 第35-36页 |
| 3.3 不同温度下Ti_2AlNb电子束焊接头微区内弹性模量与硬度 | 第36-37页 |
| 3.4 Ti_2AlNb电子束焊接头微区本构参数的纳米压痕反演 | 第37-41页 |
| 3.4.1 不同温度下Ti_2AlNb焊接接头纳米压痕测试P-h曲线 | 第37-38页 |
| 3.4.2 Ti_2AlNb焊接接头纳米压痕测试P-h曲线修正 | 第38-39页 |
| 3.4.3 不同温度下Ti_2AlNb电子束焊接头内屈服强度的分布 | 第39-40页 |
| 3.4.4 不同温度下Ti_2AlNb电子束焊接头不同微区抗拉强度的分布 | 第40-41页 |
| 3.5 Ti_2AlNb电子束焊接头微区统一的Ludwick本构关系 | 第41-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 Ti_2AlNb母材和焊接接头微区拉伸及本构模型验证 | 第45-51页 |
| 4.1 引言 | 第45页 |
| 4.2 Ti_2AlNb母材室温静拉伸试验 | 第45-47页 |
| 4.2.1 Ti_2AlNb母材静拉伸试验件设计 | 第45-46页 |
| 4.2.2 Ti_2AlNb母材常温静拉伸试验分析 | 第46-47页 |
| 4.3 Ti_2AlNb焊接接头微区高温拉伸试验 | 第47-49页 |
| 4.3.1 Ti_2AlNb焊接接头微区高温拉伸试验方法 | 第47-48页 |
| 4.3.2 Ti_2AlNb焊接接头微区高温拉伸试验结果分析 | 第48-49页 |
| 4.4 Ti_2AlNb电子束焊接头微区本构关系验证 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 Ti_2AlNb焊接接头微区高温疲劳裂纹萌生细观模型研究 | 第51-70页 |
| 5.1 引言 | 第51页 |
| 5.2 基于Tanaka-Mura模型的疲劳裂纹萌生研究 | 第51-52页 |
| 5.3 Ti_2AlNb焊接接头微区高温原位疲劳试验 | 第52-60页 |
| 5.3.1 Ti_2AlNb焊接接头微区高温原位疲劳试验方法 | 第52-54页 |
| 5.3.2 Ti_2AlNb焊接接头焊缝的高温原位疲劳行为分析 | 第54-55页 |
| 5.3.3 Ti_2AlNb焊接接头热影响区的高温原位疲劳行为分析 | 第55-56页 |
| 5.3.4 Ti_2AlNb焊接接头母材的高温原位疲劳行为分析 | 第56-58页 |
| 5.3.5 Ti_2AlNb焊接接头不同微区疲劳裂纹萌生及扩展规律 | 第58-60页 |
| 5.4 基于Tanaka-Mura理论的Ti_2AlNb电子束焊接头高温裂纹萌生模拟 | 第60-67页 |
| 5.4.1 Ti_2AlNb电子束焊接头不同微区裂纹萌生模拟方法 | 第60-61页 |
| 5.4.2 有限元建模 | 第61页 |
| 5.4.3 接头微区材料参数及子模型应力分析 | 第61-64页 |
| 5.4.4 Ti_2AlNb焊接接头母材高温裂纹萌生模拟结果分析 | 第64-65页 |
| 5.4.5 Ti_2AlNb焊接接头热影响区高温裂纹萌生模拟分析 | 第65-66页 |
| 5.4.6 Ti_2AlNb焊接接头焊缝高温裂纹萌生模拟结果分析 | 第66-67页 |
| 5.4.7 Ti_2AlNb电子束焊接头不同微区的Tanaka-Mura疲劳裂纹萌生模型验证 | 第67页 |
| 5.5 Ti_2AlNb电子束焊接头微区高温疲劳断口分析 | 第67-69页 |
| 5.6 本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 在学期间的研究成果及发表的论文 | 第77-78页 |
| 附录 | 第78-79页 |
