基于等游程FDR编码的数字电路测试压缩方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第12-13页 |
| 1.2 面临的挑战 | 第13-14页 |
| 1.3 测试数据压缩的国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.4 本文主要工作 | 第16页 |
| 1.5 本文组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 集成电路测试基本理论 | 第18-35页 |
| 2.1 测试的意义 | 第18页 |
| 2.2 测试的原理 | 第18页 |
| 2.3 故障模型 | 第18-20页 |
| 2.3.1 固定故障 | 第19页 |
| 2.3.2 桥接故障 | 第19页 |
| 2.3.3 跳变故障 | 第19-20页 |
| 2.3.4 延时故障 | 第20页 |
| 2.4 DFT设计 | 第20-22页 |
| 2.5 测试产生 | 第22-23页 |
| 2.6 测试压缩 | 第23-33页 |
| 2.6.1 基于编码的测试压缩方法 | 第23-29页 |
| 2.6.2 广播式扫描压缩方法 | 第29-32页 |
| 2.6.3 基于线性解压结构的压缩方法 | 第32-33页 |
| 2.7 小结 | 第33-35页 |
| 第3章 一种基于IFDR改进的测试压缩方法 | 第35-44页 |
| 3.1 IFDR码 | 第35-36页 |
| 3.2 ERFDR码 | 第36-37页 |
| 3.3 性能分析 | 第37-38页 |
| 3.4 无关位的填充 | 第38-40页 |
| 3.5 解码器设计 | 第40-42页 |
| 3.6 实验结果 | 第42-43页 |
| 3.7 小结 | 第43-44页 |
| 第4章 一种基于EFDR-BC改进型压缩方法 | 第44-52页 |
| 4.1 EFDR码和EFDR-BC码 | 第44-46页 |
| 4.2 向量两两合并算法 | 第46-47页 |
| 4.3 改进型EFDR-BC码 | 第47-49页 |
| 4.4 组编码 | 第49-50页 |
| 4.5 实验结果 | 第50-51页 |
| 4.6 小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第59页 |
