LabVIEW驱动椭圆偏振仪的光学探测和数据采集系统
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 椭圆偏振术的初步介绍 | 第9-11页 |
| 1.2 椭偏术的产生、发展和现状 | 第11-12页 |
| 1.3 LabVIEW简介 | 第12-13页 |
| 1.4 本文结构 | 第13-14页 |
| 第二章 椭偏技术的原理 | 第14-32页 |
| 2.1 椭圆偏振光的介面反射 | 第14-17页 |
| 2.1.1 光的偏振和椭圆偏振光 | 第14-15页 |
| 2.1.2 Fresnel公式和椭偏参数 | 第15-17页 |
| 2.2 椭偏参数和材料光学参数的关系 | 第17-22页 |
| 2.2.1 体型材料的光学参数 | 第17-19页 |
| 2.2.2 透明介质薄膜的折射率和厚度 | 第19-21页 |
| 2.2.3 金的复折射率的另一种算法 | 第21-22页 |
| 2.3 椭偏仪原理 | 第22-32页 |
| 2.3.1 线性偏振光学系统的的琼斯表示 | 第22-24页 |
| 2.3.2 光度式椭偏仪原理 | 第24-28页 |
| 2.3.3 消光式椭偏仪原理 | 第28-32页 |
| 第三章 实验平台 | 第32-50页 |
| 3.1 实验用椭偏仪 | 第32-35页 |
| 3.1.1 实验光路 | 第33-34页 |
| 3.1.2 数据采集卡 | 第34-35页 |
| 3.2 LabVIEW借助DAQmx编程 | 第35-42页 |
| 3.2.1 仪器控制和数据采集要求 | 第36-37页 |
| 3.2.2 实验过程和LabVIEW程序框图 | 第37-42页 |
| 3.3 精密光电探测器 | 第42-50页 |
| 3.3.1 硅光电池工作原理 | 第42-44页 |
| 3.3.2 仪表放大器介绍 | 第44-45页 |
| 3.3.3 由AD620构成的放大电路 | 第45-50页 |
| 第四章 数据处理及结果分析 | 第50-58页 |
| 4.1 镀金镜80°入射角测量数据和修正 | 第50-53页 |
| 4.1.1 RC低通滤波误差的修正 | 第51-52页 |
| 4.1.2 数字低通滤波相位修正 | 第52-53页 |
| 4.2 椭偏参数和相关光学计算结果 | 第53-56页 |
| 4.3 实验总结和展望 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
