| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第10-14页 |
| 1.1.1 接触热阻的概念 | 第12-14页 |
| 1.1.2 接触热阻的影响因素 | 第14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.2.1 国内研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2.2 国外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 VDMOS加速寿命实验 | 第18-30页 |
| 2.1 加速寿命实验理论 | 第18-19页 |
| 2.2 基本加速实验模型 | 第19-21页 |
| 2.2.1 阿伦尼斯模型 | 第19-20页 |
| 2.2.2 逆幂律模型 | 第20页 |
| 2.2.3 广义艾林模型 | 第20-21页 |
| 2.3 VDMOS加速寿命实验 | 第21-28页 |
| 2.3.1 VDMOS器件工作原理 | 第21-22页 |
| 2.3.2 VDMOS加速寿命实验方案 | 第22-23页 |
| 2.3.3 VDMOS加速寿命实验与数据处理 | 第23-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 接触热阻无损测量的研究 | 第30-42页 |
| 3.1 Analysis Tech Phase11热阻分析仪 | 第30-33页 |
| 3.1.1 电学法测热阻 | 第30-31页 |
| 3.1.2 Analysis Tech Phase11热阻分析仪 | 第31-33页 |
| 3.2 接触热阻实验测量与热模拟 | 第33-41页 |
| 3.2.1 接触热阻测量理论 | 第33-36页 |
| 3.2.2 ICEPAK接触热阻模拟 | 第36-37页 |
| 3.2.3 接触热阻实验测量 | 第37-41页 |
| 3.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 接触热阻的温度特性 | 第42-56页 |
| 4.1 温度变化影响接触热阻 | 第42-45页 |
| 4.2 接触热阻高温老化实验 | 第45-51页 |
| 4.3 接触热阻高低温温度循环实验 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-56页 |
| 结论 | 第56-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66页 |