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第一性原理研究Ge和GaAs的弹性常数及位错性质

摘要第6-7页
Abstract第7-8页
第一章 引言第11-19页
    1.1 本论文的研究背景和现状第11页
    1.2 弹性常数的研究现状第11-12页
    1.3 位错性质的研究现状第12-17页
        1.3.1 半导体Ge中的位错第15-16页
        1.3.2 GaAs中的位错第16-17页
    1.4 本论文的研究意义第17页
    1.5 本论文的主要内容和安排第17-19页
第二章 计算方法第19-29页
    2.1 第一性原理计算方法第19页
    2.2 薛定谔方程第19-20页
    2.3 玻恩-奥本海默近似第20-21页
    2.4 Hartree-Fork近似(哈特力-福克自洽场方法)第21-23页
        2.4.1 Hartree近似第21-22页
        2.4.2 Fork近似第22-23页
    2.5 密度泛函理论第23-28页
        2.5.1 Hohenbery-Kohn近似第23-24页
        2.5.2 Kohn-Sham方程第24-25页
        2.5.3 局域密度近似第25-26页
        2.5.4 广义梯度近似第26-27页
        2.5.5 赝势平面波方法第27-28页
    2.6 计算软件VASP简介第28-29页
第三章 Ge和GaAs的弹性性质第29-45页
    3.1 线性弹性理论第29页
    3.2 非线性弹性理论第29-32页
    3.3 理论方法第32-33页
    3.4 计算方法第33页
    3.5 计算结果与讨论第33-42页
    3.6 本章小结第42-45页
第四章 Ge和GaAs的广义层错能第45-51页
    4.1 广义层错能的概述第45页
    4.2 Ge和GaAs广义层错能的计算第45-46页
    4.3 结果与讨论第46-51页
第五章 Ge和GaAs的位错方程及Peierls势垒和Peierls应力第51-61页
    5.1 位错方程第51-52页
    5.2 位错的芯结构及Peierls势垒和Peierls应力第52-58页
    5.3 结果与讨论第58-61页
第六章 总结与展望第61-63页
    6.1 总结第61-62页
    6.2 展望第62-63页
参考文献第63-71页
附录A (攻读硕士学位期间发表的学术论文)第71-73页
附录B (攻读硕士学位期间参与项目及获奖文)第73-75页
致谢第75页

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