| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-19页 |
| ·标准模型 | 第9-11页 |
| ·强子态 | 第11-12页 |
| ·粲偶素及其衰变 | 第12-17页 |
| ·粲偶素家族 | 第12-14页 |
| ·粲偶素衰变 | 第14页 |
| ·J/ψ衰变 | 第14-17页 |
| ·论文的选题动机、目的和结构 | 第17-19页 |
| ·选题动机与目的 | 第17-18页 |
| ·论文结构 | 第18-19页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)和北京谱仪(BESⅢ)简介 | 第19-24页 |
| ·北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第19-21页 |
| ·北京谱仪(BESⅢ) | 第21-24页 |
| 第三章 J/ψ→φK~+K~-,φπ~+π~-的事例挑选和本底分析 | 第24-44页 |
| ·所用到的事例样本 | 第24页 |
| ·Jψ→φK~+K~-,φπ~+π~-的事例选择 | 第24-27页 |
| ·衰变道特征 | 第24-25页 |
| ·带电径迹的选择条件 | 第25页 |
| ·π介子和K介子的鉴别 | 第25-26页 |
| ·事例初选样本的获得 | 第26-27页 |
| ·J/ψ→φK~+K~-,φπ~+π~-的事例终选 | 第27-32页 |
| ·J/ψ→φK~+K~-的事例终选 | 第27-28页 |
| ·J/ψ→φπ~+π~-的事例终选 | 第28-32页 |
| ·本底分析 | 第32-44页 |
| ·J/ψ→φK~+K~-的本底分析 | 第32-33页 |
| ·J/ψ→φπ~+π~-的本底分析 | 第33-42页 |
| ·小结 | 第42-44页 |
| 第四章 分波分析方法 | 第44-51页 |
| ·初始考虑与目标 | 第44-45页 |
| ·分波振幅和截面 | 第45页 |
| ·最大似然法 | 第45-46页 |
| ·Monte-Carlo积分 | 第46-48页 |
| ·J/ψ→φK~+K~-,φπ~+π~-分波振幅公式符号说明 | 第48页 |
| ·J/ψ非辐射衰变振幅和衰变截面的一般公式 | 第48-50页 |
| ·分波分析流程 | 第50-51页 |
| 第五章 分波分析的输入输出检查 | 第51-64页 |
| ·输入输出检查的目的 | 第51页 |
| ·输入输出检查所用数据样本 | 第51-52页 |
| ·输入输出检查的过程与结果 | 第52-63页 |
| ·检查整体拟合及最佳解 | 第52-53页 |
| ·质量和宽度扫描 | 第53页 |
| ·拟合优度检查 | 第53-61页 |
| ·自旋宇称及成分检查 | 第61-63页 |
| ·输入输出检查总结 | 第63-64页 |
| 第六章 J/ψ→φK~+K~-,φπ~+~π~-的分波分析 | 第64-80页 |
| ·本底扣除方法 | 第64-65页 |
| ·整体拟合及最佳解 | 第65-66页 |
| ·拟合优度检查 | 第66页 |
| ·质量和宽度扫描 | 第66-71页 |
| ·信号显著性检查 | 第71-75页 |
| ·效率和分支比 | 第75-76页 |
| ·误差分析 | 第76-77页 |
| ·分波分析的结果和讨论 | 第77-80页 |
| 第七章 总结和展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
