| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-20页 |
| ·粒子物理研究历史及现状 | 第8页 |
| ·粒子物理理论基础 | 第8-14页 |
| ·标准模型 | 第8-10页 |
| ·基本粒子分类 | 第10-12页 |
| ·强子结构 | 第12-14页 |
| ·J/ψ及粲偶数的研究 | 第14-16页 |
| ·J/ψ及粲偶数发展历史及现状 | 第14-15页 |
| ·J/ψ粒子及粲偶素产生衰变机制 | 第15-16页 |
| ·重子物理的研究 | 第16-17页 |
| ·粒子物理实验 | 第17-18页 |
| ·论文选题的意义和论文结构 | 第18-20页 |
| ·论文选题的目的和意义 | 第18-19页 |
| ·论文选题的结构 | 第19-20页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机BEPCⅡ和北京谱仪BESⅢ | 第20-44页 |
| ·北京正负电子对撞机BEPCⅡ和京谱仪BESⅢ | 第20-22页 |
| ·北京谱仪BESⅢ | 第22-37页 |
| ·对撞区与束流管 | 第24-25页 |
| ·主漂移室(MDC) | 第25-28页 |
| ·飞行时间计数器(TOF) | 第28-30页 |
| ·电磁量能器 | 第30-34页 |
| ·超导磁体 | 第34-35页 |
| ·μ子鉴别器 | 第35-37页 |
| ·数据获取和分析系统 | 第37-43页 |
| ·电子学系统 | 第37-38页 |
| ·触发判选系统 | 第38-39页 |
| ·在线数据获取系统 | 第39-40页 |
| ·离线数据处理系统(Offine Software System) | 第40-43页 |
| ·本章小节 | 第43-44页 |
| 第三章 粒子鉴别方法与高能物理实验Monte Carlo方法模拟 | 第44-63页 |
| ·电径迹的初步选择和鉴别 | 第44-50页 |
| ·带电径迹的选择 | 第44-46页 |
| ·带电粒子鉴别 | 第46-50页 |
| ·利用dE/dx进行带电粒子鉴别 | 第46-48页 |
| ·利用TOF进行粒子鉴别 | 第48-49页 |
| ·K、π和质子p的鉴别 | 第49页 |
| ·电子和μ子的鉴别 | 第49-50页 |
| ·利用运动学拟合进行粒子鉴别 | 第50-52页 |
| ·高能物理实验上的Monte Carlo模拟 | 第52-62页 |
| ·高能物理实验数据分析过程 | 第52-55页 |
| ·蒙特卡罗模拟方法 | 第55-61页 |
| ·BESⅢ上的事例顶点的重建 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第四章 工作内容BESⅢ上J/ψ→nK_s~0∧+c.c过程分支比的测量 | 第63-84页 |
| ·前言 | 第63-64页 |
| ·事例选择 | 第64-66页 |
| ·事例终选 | 第66-70页 |
| ·事例终选结果 | 第70-71页 |
| ·本底研究 | 第71-74页 |
| ·在蒙特卡罗(Monte Carlo)样本对J/ψ→anything衰变进行研究 | 第71-72页 |
| ·蒙特卡罗(Monte Carlo)样本模拟本底衰变道进行研究 | 第72-74页 |
| ·J/ψ→nK_s~0∧+c.c分支比测量 | 第74-76页 |
| ·事例检查与讨论 | 第76-83页 |
| ·本章小节 | 第83-84页 |
| 第五章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-89页 |
| 后记、致谢 | 第89-90页 |
