摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-13页 |
1.1 开关电源的概述 | 第10-11页 |
1.1.1 开关电源的分类 | 第10页 |
1.1.2 开关电源发展趋势 | 第10-11页 |
1.2 课题研究背景 | 第11页 |
1.3 论文主要工作及章节安排 | 第11-13页 |
第二章 COT谷值电流控制模式BUCK控制器工作原理 | 第13-24页 |
2.1 电流型控制 | 第13-20页 |
2.1.1 峰值电流控制 | 第14-17页 |
2.1.2 谷值电流控制 | 第17-19页 |
2.1.3 平均电流控制 | 第19-20页 |
2.2 COT谷值电流控制BUCK控制器工作原理 | 第20-23页 |
2.2.1 COT和CFT控制架构 | 第20-21页 |
2.2.2 COT谷值控制器开关频率分析 | 第21-23页 |
2.3 本章小结 | 第23-24页 |
第三章 低压高效率DC-DC控制器的技术研究 | 第24-39页 |
3.1 低压和高效率的限制因素 | 第24-29页 |
3.1.1 低占空比限制 | 第24-25页 |
3.1.2 高效率限制 | 第25-29页 |
3.2 电流采样技术 | 第29-33页 |
3.3 死区时间控制技术 | 第33-36页 |
3.4 本文设计的低压高效率BUCK变换器系统结构 | 第36-38页 |
3.5 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 芯片内部子电路模块的分析、设计与仿真验证 | 第39-69页 |
4.1 高电源抑制的带隙基准源 | 第39-48页 |
4.1.1 带隙基准源架构分析 | 第40-44页 |
4.1.2 设计的带隙基准源结构 | 第44-46页 |
4.1.3 基准仿真结果与分析 | 第46-48页 |
4.2 裕度调节电路 | 第48-52页 |
4.2.1 基本控制原理 | 第48-49页 |
4.2.2 裕度调节电路分析 | 第49-51页 |
4.2.3 仿真结果验证 | 第51-52页 |
4.3 片内次级电源 | 第52-61页 |
4.3.1 片外大电容LDO设计要点 | 第53-54页 |
4.3.2 电路设计与分析 | 第54-59页 |
4.3.3 仿真结果与分析 | 第59-61页 |
4.4 过零电流比较器设计 | 第61-65页 |
4.4.1 电路特性分析 | 第61-63页 |
4.4.2 仿真结果与分析 | 第63-65页 |
4.5 自适应死区时间控制设计 | 第65-68页 |
4.5.1 功率管驱动电路 | 第65-66页 |
4.5.2 死区时间控制电路 | 第66-67页 |
4.5.3 仿真结果与分析 | 第67-68页 |
4.6 本章小结 | 第68-69页 |
第五章 低压高效率转换器系统仿真 | 第69-77页 |
5.1 芯片总体仿真拓扑 | 第69-70页 |
5.2 系统仿真结果与分析 | 第70-75页 |
5.2.1 变换器上电启动特性仿真 | 第70-71页 |
5.2.2 轻载的FCCM模式和DCM模式仿真 | 第71-72页 |
5.2.3 线性瞬态响应 | 第72-73页 |
5.2.4 负载瞬态响应 | 第73-74页 |
5.2.5 低输出电压仿真 | 第74-75页 |
5.3 效率仿真 | 第75-76页 |
5.4 本章小结 | 第76-77页 |
第六章 总结 | 第77-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-82页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第82-83页 |