基于有限元法的指环式条码扫描器的结构优化
摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第10-21页 |
1.1 条码与扫描器技术 | 第10-16页 |
1.1.1 条码扫描器介绍 | 第10-11页 |
1.1.2 条码技术的发展 | 第11-12页 |
1.1.3 条码扫描器技术 | 第12-16页 |
1.2 课题研究的目的 | 第16-18页 |
1.3 课题研究的对象 | 第18-20页 |
1.4 本文架构 | 第20-21页 |
第二章 指环式条码扫描器扳机的疲劳设计 | 第21-34页 |
2.1 引言 | 第21页 |
2.2 疲劳分析的基础 | 第21-25页 |
2.2.1 疲劳定义 | 第21-22页 |
2.2.2 疲劳分类 | 第22页 |
2.2.3 疲劳SN曲线 | 第22-24页 |
2.2.4 平均应力修正 | 第24-25页 |
2.3 扳机的疲劳分析 | 第25-29页 |
2.3.1 应力分析 | 第25-28页 |
2.3.2 疲劳寿命分析 | 第28-29页 |
2.4 扳机的疲劳试验 | 第29-34页 |
2.4.1 疲劳试验装置 | 第29-30页 |
2.4.2 疲劳试验结果 | 第30-31页 |
2.4.3 疲劳试验样本数量计算 | 第31-34页 |
第三章 指环式条码扫描器的温度场设计 | 第34-52页 |
3.1 引言 | 第34页 |
3.2 热设计和分析理论基础 | 第34-38页 |
3.3 扫描器的温度场分析 | 第38-46页 |
3.3.1 温度场分析软件介绍 | 第38页 |
3.3.2 分析模型、材料和功耗 | 第38-41页 |
3.3.3 求解条件设置 | 第41页 |
3.3.4 温度场网格划分 | 第41-44页 |
3.3.5 温度场分析结果 | 第44-46页 |
3.4 扫描器的温度场试验 | 第46-49页 |
3.4.1 温度场试验装置 | 第46-48页 |
3.4.2 温度场试验结果 | 第48-49页 |
3.5 温度场失效分析及结构优化 | 第49-52页 |
第四章 指环式条码扫描器结构跌落性能优化 | 第52-70页 |
4.1 引言 | 第52页 |
4.2 跌落试验介绍 | 第52-53页 |
4.3 LS-DYNA简介 | 第53-55页 |
4.3.1 显式积分求解法 | 第53-55页 |
4.3.2 时间步长控制 | 第55页 |
4.4 扫描器的跌落动力学分析 | 第55-64页 |
4.4.1 跌落分析的要求 | 第55-56页 |
4.4.2 几何模型的建立 | 第56-57页 |
4.4.3 网格的划分 | 第57-58页 |
4.4.4 材料属性的定义 | 第58-59页 |
4.4.5 接触定义 | 第59页 |
4.4.6 跌落初速度设定 | 第59-60页 |
4.4.7 跌落分析结果 | 第60-64页 |
4.5 扫描器的跌落试验 | 第64-66页 |
4.5.1 跌落试验装置 | 第64-65页 |
4.5.2 跌落试验结果 | 第65-66页 |
4.6 跌落测试失效分析及结构优化 | 第66-70页 |
第五章 总结与展望 | 第70-72页 |
5.1 结论 | 第70页 |
5.2 展望 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-74页 |
攻读学位期间本人出版或公开发表的论著、论文 | 第74-75页 |
致谢 | 第75-76页 |