质子辐照和原子氧环境下薄膜二次表面镜的损伤效应
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-24页 |
| ·研究课题背景及意义 | 第8-9页 |
| ·热控涂层的作用及热控原理 | 第9-12页 |
| ·航天器热控制技术 | 第10-11页 |
| ·镀银F46 薄膜型热控涂层 | 第11-12页 |
| ·空间环境及其对热控涂层的影响 | 第12-20页 |
| ·空间带电粒子辐射 | 第12-15页 |
| ·原子氧 | 第15-19页 |
| ·空间综合环境效应 | 第19-20页 |
| ·空间环境效应的研究现状 | 第20-22页 |
| ·原子氧效应的研究现状 | 第20-22页 |
| ·粒子在材料中辐射过程的数值模拟 | 第22页 |
| ·本论文研究目的及内容 | 第22-24页 |
| 第2章 材料设备及试验方法 | 第24-29页 |
| ·试验材料 | 第24页 |
| ·试验设备 | 第24-27页 |
| ·辐照设备 | 第24-26页 |
| ·原子氧模拟设备 | 第26-27页 |
| ·分析测试设备 | 第27页 |
| ·光学性能测试 | 第27页 |
| ·X 射线光电子能谱（XPS） | 第27页 |
| ·精密电子天平 | 第27页 |
| ·金相显微镜 | 第27页 |
| ·试验方案 | 第27-29页 |
| ·原子氧暴露试验方案 | 第27-28页 |
| ·质子辐照方案 | 第28页 |
| ·质子与原子氧综合试验方案 | 第28-29页 |
| 第3章 原子氧侵蚀效应 | 第29-39页 |
| ·质量损失变化 | 第29-30页 |
| ·表面形貌分析 | 第30-32页 |
| ·光学性能分析 | 第32-34页 |
| ·XPS 分析 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第4章 质子辐照损伤效应 | 第39-47页 |
| ·质子辐照的数值模拟 | 第39-40页 |
| ·质子辐照对光学性能的影响 | 第40-44页 |
| ·质子辐照后的质量变化 | 第44-45页 |
| ·结果讨论 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第5章 质子与原子氧综合损伤效应 | 第47-53页 |
| ·质量损失变化 | 第47-48页 |
| ·光学性能变化 | 第48-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
