中文摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-9页 |
第1章 氢损伤监测技术的发展 | 第9-18页 |
1.1 氢对金属的损伤 | 第9-10页 |
1.2 氢探测仪的研究现状与发展前景 | 第10-16页 |
1.2.1 氢探测仪的类型 | 第10-15页 |
1.2.2 总结与展望 | 第15-16页 |
1.3 本文的研究背景及主要任务 | 第16页 |
参考文献 | 第16-18页 |
第2章 质子导体 | 第18-29页 |
2.1 钙钛矿型质子导体的种类 | 第18页 |
2.2 钙钛矿型质子导体的导电机制 | 第18-26页 |
2.2.1 固体电解质的电导率—温度特性 | 第18-19页 |
2.2.2 掺杂元素种类及掺杂量对电导率的影响 | 第19-21页 |
2.2.3 质子导体在不同气氛中的电导率 | 第21-25页 |
2.2.4 质子迁移数及其影响因素 | 第25页 |
2.2.5 质子的传输机理 | 第25-26页 |
2.3 质子导体的应用 | 第26页 |
2.4 结束语 | 第26-27页 |
参考文献 | 第27-29页 |
第3章 固体电解质的制备方法 | 第29-46页 |
3.1 固体电解质的制备方法综述 | 第29-31页 |
3.2 实验方法及内容 | 第31-36页 |
3.2.1 所用化学药品及主要仪器 | 第31-32页 |
3.2.2 质子导体前驱物的制备 | 第32-34页 |
3.2.3 烧结 | 第34-35页 |
3.2.4 电极的制作 | 第35页 |
3.2.5 分析及测试方法 | 第35-36页 |
3.3 结果与讨论 | 第36-44页 |
3.3.1 沉淀剂PH值的确定 | 第36-38页 |
3.3.2 沉淀温度、搅拌与陈化时间对沉淀物的影响 | 第38页 |
3.3.3 表面活性剂的作用及团聚 控制 | 第38页 |
3.3.4 煅烧温度与时间对产品的影响 | 第38-40页 |
3.3.5 烧结体的密度、相组成以及烧结曲线解释 | 第40-43页 |
3.3.6 电极的微结构和对元件性能的影响 | 第43-44页 |
3.4 结论 | 第44-45页 |
参考文献 | 第45-46页 |
第4章 质子导体的导电性能研究 | 第46-55页 |
4.1 固体电解质的电导率 | 第46-47页 |
4.2 实验方法与内容 | 第47-50页 |
4.2.1 电导率的测试方法与实验装置 | 第47-50页 |
4.2.2 测试内容 | 第50页 |
4.3 结果与讨论 | 第50-53页 |
4.3.1 质子电导率与电子电导率 | 第50-52页 |
4.3.2 掺杂量与电导率的关系 | 第52-53页 |
4.3.3 质子迁移数 | 第53页 |
4.4 结论 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-55页 |
第5章 高温测氢 | 第55-74页 |
5.1 高温测氢原理 | 第55-61页 |
5.1.1 氢在金属中的扩散 | 第55-56页 |
5.1.2 电化学测氢的基本原理 | 第56-57页 |
5.1.3 氢渗透曲线的数学分析 | 第57-60页 |
5.1.4 拐点切线法 | 第60-61页 |
5.2 实验方法与内容 | 第61-63页 |
5.3 结果与讨论 | 第63-72页 |
5.3.1 结果数学分析 | 第63-67页 |
5.3.2 阳极极化电位对测试结果的影响 | 第67-69页 |
5.3.3 阴极气氛的影响 | 第69页 |
5.3.4 测试结果与sivert定律的对比 | 第69-70页 |
5.3.5 表面层对氢渗透行为的影响 | 第70-71页 |
5.3.6 实验中所存在的问题 | 第71-72页 |
5.4 结论 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-74页 |
第6章 总结论 | 第74-76页 |
致谢 | 第76页 |