| 摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·高压状态方程的研究意义与研究方法 | 第7-9页 |
| ·利用激光驱动冲击波测量状态方程的基本原理 | 第9-10页 |
| ·冲击压缩线的三种基本测量方法 | 第10-14页 |
| ·对比法 | 第11-12页 |
| ·自由面速度法 | 第12页 |
| ·阻滞法 | 第12-14页 |
| ·本论文主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 利用侧向阴影照相技术进行状态方程测量的几种方法 | 第15-21页 |
| ·利用条纹相机进行阴影照相 | 第15页 |
| ·利用分幅摄像的方式进行侧向阴影照相 | 第15-17页 |
| ·利用X射线侧向照相技术进行低原子序数材料状态方程的绝对测量 | 第17-21页 |
| 第三章 实验装置 | 第21-36页 |
| ·简介 | 第21页 |
| ·打靶激光 | 第21-22页 |
| ·探测光 | 第22-23页 |
| ·条纹相机 | 第23-28页 |
| ·条纹相机的原理 | 第23-25页 |
| ·标定 | 第25-26页 |
| ·条纹相机与激光系统的同步 | 第26-27页 |
| ·条纹相机的回扫 | 第27-28页 |
| ·普克尔盒与机械快门 | 第28-30页 |
| ·靶的制作 | 第30-31页 |
| ·利用内调焦望远镜系统对靶的精确定位 | 第31-34页 |
| ·内调焦望远镜的用途 | 第31-32页 |
| ·内调焦望远镜的基本结构 | 第32页 |
| ·内调焦望远镜的调节方法 | 第32-33页 |
| ·利用内调焦望远镜进行精确定位 | 第33-34页 |
| ·干涉滤波片与衰减片 | 第34-36页 |
| 第四章 实验结果 | 第36-47页 |
| ·实验一,单层50微米厚度铝靶的实验 | 第36-39页 |
| ·实验二,带烧蚀层的铝靶的实验 | 第39-42页 |
| ·实验三,带烧蚀层的铝靶的实验 | 第42-44页 |
| ·实验四,单层30微米厚度铝靶的实验 | 第44-47页 |
| 第五章 结果分析 | 第47-53页 |
| ·实验结果与模拟结果的对照 | 第47-48页 |
| ·误差分析 | 第48-51页 |
| ·由于探测光与靶面不平行而造成的误差 | 第48-50页 |
| ·由于探测光功率过低而造成的误差 | 第50-51页 |
| ·结论与下一步工作 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55页 |