压电谐振式结冰传感器数学模型研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·研究工作的背景与意义 | 第8-9页 |
·国内外研究概况 | 第9-11页 |
·国外概况 | 第9-11页 |
·国内概况 | 第11页 |
·论文的主要内容 | 第11-13页 |
2 结冰传感器基本工作原理 | 第13-22页 |
·压电陶瓷材料 | 第13-17页 |
·功能陶瓷 | 第13页 |
·压电效应与压电陶瓷 | 第13-16页 |
·压电陶瓷的性能参数 | 第16-17页 |
·压电谐振式结冰传感器工作原理 | 第17-22页 |
·谐振现象与谐振频率 | 第17-18页 |
·结冰传感器敏感元件结构 | 第18-20页 |
·结冰对膜片的影响初步分析 | 第20-22页 |
3 结冰传感器敏感元件弹性理论分析 | 第22-30页 |
·基本弹性理论 | 第22页 |
·敏感元件弹性力学分析 | 第22-30页 |
·弹性圆薄板的对称弯曲 | 第23-28页 |
·膜片边缘固定情况 | 第28-30页 |
4 敏感元件测冰原理分析及基本模型的建立 | 第30-35页 |
·敏感元件谐振运动分析 | 第30-32页 |
·基本模型的建立 | 第32-33页 |
·结冰过程对敏感元件谐振的影响 | 第33-35页 |
5 结冰传感器特性实验研究 | 第35-48页 |
·结冰传感器实验平台 | 第35-37页 |
·DSO500 型虚拟仪器 | 第35-36页 |
·结冰传感器频率监测系统 | 第36-37页 |
·结冰传感器标定实验台 | 第37页 |
·结冰传感器膜片特性实验研究 | 第37-43页 |
·膜片谐振频率时间稳定性实验 | 第37-38页 |
·膜片谐振频率温度稳定性实验 | 第38-41页 |
·膜片频率特性实验 | 第41-43页 |
·结冰传感器低温结冰实验 | 第43-48页 |
·低温结冰实验 | 第43-45页 |
·频率—冰厚标定实验 | 第45-46页 |
·二实验平台结冰实验比较 | 第46-48页 |
6 数学模型对比实验分析 | 第48-49页 |
7 总结与展望 | 第49-50页 |
致谢 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-54页 |
附录1 攻读学位期间发表的论文目录 | 第54页 |