| 引言 | 第1-8页 |
| 第一章 复杂衰减过程数据的处理方法 | 第8-11页 |
| ·Lg(t)微分法 | 第8页 |
| ·简单寿命的衰减过程 | 第8-9页 |
| ·复杂衰减过程 | 第9-11页 |
| 第二章 数据采集系统 | 第11-26页 |
| ·高速数据采集部分 | 第11-22页 |
| ·高速 A/D 转换器 | 第13-14页 |
| ·AD943285T-105 主要技术特征 | 第13页 |
| ·AD9432 应用要点 | 第13-14页 |
| ·AD9432 的工作时序 | 第14页 |
| ·时钟信号发生器 | 第14-15页 |
| ·时钟振荡器 | 第14-15页 |
| ·时钟信号设计注意事项 | 第15页 |
| ·高速地址发生器 | 第15-18页 |
| ·74F163A 应用简述 | 第15-16页 |
| ·计数器的两种级联方式 | 第16-17页 |
| ·高速级联的设计要点 | 第17-18页 |
| ·高速数据缓存 | 第18-21页 |
| ·高速数据缓存的常用方案 | 第18页 |
| ·高速 SRAM 1561LV25616AL-10T 应用要点 | 第18-20页 |
| ·高速缓存设计要点 | 第20-21页 |
| ·采集系统高速部分布板设计要点 | 第21-22页 |
| ·低速高精度数据采集部分 | 第22-24页 |
| ·PC 接口控制电路 | 第24-25页 |
| ·数据采集系统的程序设计 | 第25-26页 |
| 第三章 数据处理 | 第26-35页 |
| ·有效数据时间起点的确定 | 第26-31页 |
| ·有效数据时间起点标定的Lg[N00-N(t)]法 | 第26-28页 |
| ·采用 Lg(t)微分法标定有效数据的时间起点 | 第28-31页 |
| ·高低速数据的衔接方法 | 第31-34页 |
| ·获得实验数据的K(t)-Lg(t) 微分峰形曲线 | 第34-35页 |
| 第四章 复杂衰减过程的模拟测试 | 第35-44页 |
| ·复杂衰减过程的信号源设计 | 第35-38页 |
| ·电容充电过程时间常数RC 的选择 | 第35-36页 |
| ·复杂衰减过程信号源电路的设计 | 第36-38页 |
| ·复杂衰减过程模拟测试的数据处理 | 第38-44页 |
| ·模拟测试之一 | 第38-41页 |
| ·模拟测试之二 | 第41-43页 |
| ·讨论 | 第43-44页 |
| 结论 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 致谢 | 第48-49页 |
| 个人简历 | 第49页 |
