摘要 | 第1-7页 |
1 绪论 | 第7-10页 |
1.1 井下工程参数测试的国内外发展现状 | 第7-8页 |
1.2 井下工程参数测试仪数据采集系统研究的意义及主要内容 | 第8-9页 |
1.3 井下工程参数测试仪数据采集系统所采用的技术路线 | 第9-10页 |
2 系统总体设计方案及硬件配置 | 第10-29页 |
2.1 井下工程参数测试仪数据采集系统总体结构框图 | 第10-11页 |
2.2 模块功能简介 | 第11-12页 |
2.3 井下工程参数测试仪数据采集系统硬件配置 | 第12-29页 |
2.3.1 器件选型思路概述 | 第12-13页 |
2.3.2 ADμC812微控制器 | 第13-22页 |
2.3.3 大容量串行Flash数据存储器AT45DB081B | 第22-24页 |
2.3.4 串行接口转换芯片MAX232A | 第24-25页 |
2.3.5 仪表放大器AD623 | 第25-27页 |
2.3.6 运算放大器OP496GS | 第27页 |
2.3.7 传感器 | 第27-28页 |
2.3.8 电源 | 第28-29页 |
3 硬件系统设计 | 第29-49页 |
3.1 硬件系统的结构组成及时钟电路设计 | 第29-31页 |
3.2 信号调理部分电路设计 | 第31-34页 |
3.3 A/D转换部分外部驱动电路设计 | 第34-35页 |
3.4 ADμC812与AT45DB081-RI接口电路设计 | 第35-38页 |
3.5 串行通信接口电路设计 | 第38-40页 |
3.6 程序下载模块接口设计 | 第40-42页 |
3.6.1 微控制器并行编程 | 第40-41页 |
3.6.2 微控制器在线编程 | 第41-42页 |
3.7 电压调理模块接口电路设计 | 第42-43页 |
3.8 复位电路设计 | 第43-44页 |
3.9 与ADμC812BS供电相关的外围电路设计 | 第44-45页 |
3.10 PCB板的设计与密封 | 第45-49页 |
3.10.1 概述 | 第45-47页 |
3.10.2 电路板密封技术 | 第47-49页 |
4 系统软件设计及调试 | 第49-72页 |
4.1 ADμC812BS在线开发系统简介 | 第49页 |
4.2 数据采集部分程序设计 | 第49-54页 |
4.2.1 ADC的特殊功能寄存器SFR | 第49-52页 |
4.2.2 ADC部分程序设计 | 第52-54页 |
4.3 数据存储程序设计 | 第54-60页 |
4.3.1 单片机内部RAM数据存储器访问 | 第54-55页 |
4.3.2 单片机内部Flash/EE数据存储器访问 | 第55-60页 |
4.4 UART数据传输程序设计 | 第60-63页 |
4.4.1 基本通信的实现 | 第61-62页 |
4.4.2 循环冗余校验的实现 | 第62-63页 |
4.5 看门狗程序设计 | 第63-65页 |
4.5.1 看门狗定时器的功能 | 第63-64页 |
4.5.2 看门狗定时器的控制和状态寄存器WDCON | 第64-65页 |
4.5.3 启动与喂看门狗的顺序 | 第65页 |
4.6 电源监视器的应用 | 第65-67页 |
4.6.1 PSM的功能和控制 | 第65-66页 |
4.6.2 PSM的使用与实现 | 第66-67页 |
4.7 串行Flash容错的设计 | 第67-70页 |
4.7.1 串行Flash纠错的必要性 | 第67页 |
4.7.2 串行Flash的常见错误图样/特征 | 第67-68页 |
4.7.3 实现串行Flash容错的方法 | 第68-70页 |
4.8 软件陷阱的设计 | 第70-72页 |
5 系统集成调试及问题的解决 | 第72-79页 |
5.1 传感器标定 | 第72-73页 |
5.2 传感器信号放大电路调试 | 第73页 |
5.3 电压、接地与复位电路调试 | 第73页 |
5.4 时钟电路调试 | 第73-75页 |
5.5 ADμC812调试环境与通信模块的调试 | 第75-77页 |
5.5.1 RS—232C接口电路调试 | 第75页 |
5.5.2 关于(?)引脚 | 第75-76页 |
5.5.3 资源占用问题 | 第76页 |
5.5.4 SPI串口对P3口的影响及解决方案 | 第76-77页 |
5.6 系统功耗分析 | 第77-79页 |
6 结论与建议 | 第79-81页 |
6.1 结论 | 第79页 |
6.2 进一步提高系统性能的方案及建议 | 第79-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-84页 |
附录 | 第84-100页 |
附录1:AOμC812引脚说明 | 第84-86页 |
附录2:ADμC812特殊功能寄存器 | 第86-87页 |
附录3:ADC校准子程序 | 第87-92页 |
附录4:ADμC812控制寄存器 | 第92-93页 |
附录5:写AT45DB081B的BUFFER1和主存储器页面子程序 | 第93-95页 |
附录6:通信子程序 | 第95-98页 |
附录7:井下工程参数测试仪数据采集系统原理图 | 第98-99页 |
附录8:工作中的井下工程参数测试仪数据采集系统照片 | 第99-100页 |
附录9:系统测试结果图例 | 第100页 |