| 致谢 | 第1-4页 |
| 内容提要 | 第4-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| §1．1 引言 | 第11页 |
| §1．2 组织光学性质测量的现状和趋势 | 第11-12页 |
| §1．3 漫反射光在组织光学性质无损测量中的意义和应用 | 第12-13页 |
| §1．4 论文主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 组织光学中的Monte Carlo方法 | 第15-25页 |
| §2．1 引言 | 第15页 |
| §2．2 蒙特卡罗（Monte Carlo）方法 | 第15-19页 |
| §2．2．1 方法简介 | 第15-16页 |
| §2．2．2 物理模型 | 第16-19页 |
| §2．3 在组织光学中研究状况的评述 | 第19-21页 |
| §2．4 用Monte Carlo方法讨论相似性原理 | 第21-24页 |
| §2．5 小结 | 第24-25页 |
| 第三章 离散介质表面漫反射光的空间分布特性 | 第25-36页 |
| §3．1 引言 | 第25页 |
| §3．2 漫反射光空间分布的模拟实验结果和讨论 | 第25-30页 |
| §3．2．1 在高斯光束、平圆光束照射下的空间分布 | 第25-27页 |
| §3．2．2 在细光束照射下的空间分布 | 第27-30页 |
| §3．3 漫反射光空间分布特性的实验研究 | 第30-35页 |
| §3．3．1 实验原理和方案设计 | 第30-33页 |
| §3．3．2 实验结果和分析 | 第33-35页 |
| §3．4 小结 | 第35-36页 |
| 第四章 离散介质表面漫反射光的偏振特性研究 | 第36-51页 |
| §4．1 引言 | 第36-37页 |
| §4．2 前人相关研究概述 | 第37-38页 |
| §4．3 理论基础 | 第38-41页 |
| §4．3．1 琼斯（Jones）矩阵 | 第38-39页 |
| §4．3．2 斯托克斯（Stokes）列矢量和密勒（Mueller）矩阵 | 第39-41页 |
| §4．4 离散介质表面漫反射光解偏度的实验测量 | 第41-44页 |
| §4．4．1 实验方案 | 第41-44页 |
| §4．5 数据处理和分析过程 | 第44页 |
| §4．6 离散介质解偏度的角度分布 | 第44-47页 |
| §4．6．1 实验测量数据 | 第44-45页 |
| §4．6．2 数据处理结果和分析 | 第45-47页 |
| §4．7 离散介质解偏度与介质浓度（散射系数）的关系 | 第47-50页 |
| §4．7．1 实验测量数据 | 第47-48页 |
| §4．7．2 数据处理结果和分析 | 第48-50页 |
| §4．8 小结 | 第50-51页 |
| 第五章 复杂结构离散介质表面漫反射光分布及其与内层光学参数的关系 | 第51-64页 |
| §5．1 引言 | 第51页 |
| §5．2 表面漫反射几率与上下层介质的光学参数差异的关系 | 第51-53页 |
| §5．2．1 与上下层介质的散射系数差异的关系 | 第52页 |
| §5．2．2 与上下层介质的吸收系数差异的关系 | 第52-53页 |
| §5．3 漫反射光的分布及其与内层光学特性参数的关系 | 第53-58页 |
| §5．3．1 漫反射光的空向分布及其与内层光学特性参数的关系 | 第53-56页 |
| 一、 与内层介质散射系数的关系 | 第53-55页 |
| 二、 与内层介质吸收系数的关系 | 第55-56页 |
| §5．3．2 漫反射率的径向分布及其与内层光学特性参数的关系 | 第56-58页 |
| 一、 与内层介质散射系数的关系 | 第56-57页 |
| 二、 与内层介质吸收系数的关系 | 第57-58页 |
| §5．4 漫反射光亮度与内层光学特性参数关系的实验研究 | 第58-63页 |
| §5．4．1 双层介质样品池的设计 | 第58-59页 |
| §5．4．2 实验方案 | 第59-60页 |
| §5．4．3 实验结果分析 | 第60-63页 |
| §5．5 小结 | 第63-64页 |
| 第六章 结束语 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 附录1 自编MC方法模拟表面漫反射的流程图 | 第71-72页 |
| 附录2 自编MathCAD7．0MC程序 | 第72-75页 |
| 附录3 在学期间撰写的学术论文 | 第75-76页 |
| 中文摘要 | 第76-77页 |
