CCD光学特性检测仪的研制
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| ·CCD光学特性检测仪的研制背景 | 第11页 |
| ·CCD光学特性检测仪的国内外发展现状 | 第11-15页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第15-16页 |
| 第2章 CCD光电参数及其检测方法 | 第16-36页 |
| ·CCD概述 | 第16-18页 |
| ·CCD的国内外发展现状 | 第16-17页 |
| ·CCD的分类 | 第17-18页 |
| ·CCD的基本工作原理 | 第18-24页 |
| ·MOS电容电荷存储 | 第19-21页 |
| ·电荷耦合 | 第21-22页 |
| ·电荷检测 | 第22-24页 |
| ·CCD光电参数和检测方法 | 第24-36页 |
| ·感光度 | 第25-30页 |
| ·动态范围 | 第30-32页 |
| ·分辨率 | 第32-34页 |
| ·电荷转移效率 | 第34页 |
| ·暗电流与工作频率 | 第34-35页 |
| ·漏光、残像与光谱感光度 | 第35-36页 |
| 第3章 CCD光学特性检测仪光源标定 | 第36-52页 |
| ·基于多传感器的光源标定 | 第36-39页 |
| ·多传感器的数据融合技术概述 | 第36-38页 |
| ·基于多光电传感器的光源标定系统设计 | 第38-39页 |
| ·弱光检测技术 | 第39页 |
| ·检测系统噪声分析和抑制 | 第39-46页 |
| ·系统内部固有噪声 | 第39-41页 |
| ·前置放大器噪声 | 第41-44页 |
| ·光电探测器噪声 | 第44页 |
| ·外部噪声 | 第44-46页 |
| ·微弱信号的提取方法 | 第46-47页 |
| ·光电探测器 | 第47-52页 |
| ·光电探测器的物理效应 | 第47-49页 |
| ·光电探测器的分类 | 第49-51页 |
| ·雪崩光电二极管 | 第51-52页 |
| 第4章 CCD光学特性检测仪系统总体设计 | 第52-60页 |
| ·整体设计思路分析 | 第52页 |
| ·光学系统设计概述 | 第52-57页 |
| ·匀光照明系统 | 第53-56页 |
| ·1:1成像系统 | 第56-57页 |
| ·电控系统设计概述 | 第57-59页 |
| ·恒流源系统 | 第57-58页 |
| ·转盘定位系统 | 第58页 |
| ·弱光检测系统 | 第58-59页 |
| ·嵌入式控制系统 | 第59页 |
| ·CCD光电特性检测仪实物图 | 第59-60页 |
| 第5章 CCD光学特性检测仪电控系统设计与实现 | 第60-74页 |
| ·电控系统设计框图 | 第60-61页 |
| ·电控系统工作过程 | 第61页 |
| ·嵌入式控制系统硬件设计 | 第61-67页 |
| ·嵌入式控制器的选择 | 第62-63页 |
| ·AD转换模块 | 第63-64页 |
| ·并串转换模块 | 第64-65页 |
| ·串并转换模块 | 第65-66页 |
| ·嵌入式控制系统实物图 | 第66-67页 |
| ·转盘定位系统设计 | 第67-69页 |
| ·步进电机驱动器 | 第67页 |
| ·霍尔元件 | 第67-68页 |
| ·定位系统实现过程 | 第68-69页 |
| ·转盘定位系统实物图 | 第69页 |
| ·弱光检测系统电路设计 | 第69-72页 |
| ·反向偏置电源设计 | 第69-71页 |
| ·前置放大器电路设计 | 第71-72页 |
| ·弱光检测系统实物图 | 第72页 |
| ·电控系统实物图 | 第72-73页 |
| ·电控系统软件设计 | 第73-74页 |
| 结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 研究生履历 | 第79页 |
