| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| 1.1 太赫兹波简介 | 第8-12页 |
| 1.1.1 太赫兹波的基本情况 | 第8-9页 |
| 1.1.2 太赫兹波的产生和探测 | 第9-11页 |
| 1.1.3 太赫兹波的应用 | 第11-12页 |
| 1.2 太赫兹频段光学参数测量技术 | 第12-18页 |
| 1.2.1 椭圆偏振测量技术 | 第13-15页 |
| 1.2.2 远红外傅里叶光谱仪 | 第15-16页 |
| 1.2.3 太赫兹时域光谱仪 | 第16-18页 |
| 1.2.4 基于K-K关系的光学参数提取方法 | 第18页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 太赫兹时域光谱技术 | 第20-30页 |
| 2.1 实验装置及原理 | 第20-23页 |
| 2.2 磷锗锌(ZGP)晶体光学参数测量 | 第23-28页 |
| 2.2.1 ZGP晶体简介 | 第23-25页 |
| 2.2.2 测量数据及分析 | 第25-28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 基于多光束干涉的太赫兹频段光学参数测量 | 第30-40页 |
| 3.1 多光束干涉原理 | 第30-32页 |
| 3.2 基于FTIR的ZGP晶体测量结果与分析 | 第32-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 基于Kramers-Kronig(K-K)关系的材料光学参数提取 | 第40-54页 |
| 4.1 K-K色散关系 | 第40-44页 |
| 4.2 基于反射率谱的光学参数提取 | 第44-48页 |
| 4.3 基于硅片反射谱及K-K关系提取光学参数 | 第48-50页 |
| 4.4 金属样品反射谱的光学参数提取 | 第50-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第5章 基于迈克尔逊干涉法的太赫兹频谱及目标速度测量 | 第54-64页 |
| 5.1 实验装置及测量原理 | 第55-57页 |
| 5.2 太赫兹激光器的频谱测量 | 第57-60页 |
| 5.3 移动镜(目标)的速度测量 | 第60-62页 |
| 5.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 第6章 总结和展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |