压控振荡器SET效应敏感性分析与设计加固
| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-24页 |
| ·课题研究背景 | 第11-13页 |
| ·课题研究基础 | 第13-19页 |
| ·VCO 简介 | 第13-14页 |
| ·SET 效应 | 第14-19页 |
| ·课题研究现状 | 第19-21页 |
| ·国外研究现状 | 第19-20页 |
| ·国内研究现状 | 第20-21页 |
| ·本文的研究工作 | 第21-22页 |
| ·本文的组织结构 | 第22-24页 |
| 第二章 SET 分析模型 | 第24-35页 |
| ·评价指标 | 第24-26页 |
| ·最大相位偏移 | 第24-25页 |
| ·错误脉冲数 | 第25-26页 |
| ·SET 分析模型 | 第26-34页 |
| ·Hajimiri 模型 | 第26-29页 |
| ·SET 敏感函数 | 第29-32页 |
| ·模拟验证 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 VCO 的SET 效应 | 第35-51页 |
| ·电路结构选择 | 第35-38页 |
| ·SET 电流源 | 第38-39页 |
| ·差分VCO 的SET 效应 | 第39-47页 |
| ·入射能量的影响 | 第40-41页 |
| ·轰击结点的影响 | 第41-44页 |
| ·轰击时刻的影响 | 第44-45页 |
| ·振荡频率的影响 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| ·失效机理 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 VCO 的SET 加固设计 | 第51-60页 |
| ·加固电路设计 | 第51-53页 |
| ·加固效果 | 第53-56页 |
| ·基于SET 模型验证 | 第53-54页 |
| ·基于实验模拟验证 | 第54-56页 |
| ·设计折衷 | 第56-57页 |
| ·与相关工作比较 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 测试芯片设计与验证 | 第60-73页 |
| ·VCO 测试芯片版图实现 | 第60-65页 |
| ·匹配设计 | 第60-61页 |
| ·电源和地线 | 第61-62页 |
| ·噪声屏蔽 | 第62页 |
| ·ESD 保护 | 第62-65页 |
| ·VCO 测试芯片版图模拟 | 第65-68页 |
| ·对称负载VCO 版图后模拟 | 第65-66页 |
| ·辐射加固VCO 版图后模拟 | 第66-67页 |
| ·模拟结果分析 | 第67-68页 |
| ·芯片测试 | 第68-72页 |
| ·测试环境 | 第68-70页 |
| ·常规性能测试 | 第70-71页 |
| ·辐射试验 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-76页 |
| ·本文工作总结 | 第73-74页 |
| ·工作展望 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 攻读硕士期间发表和撰写的论文 | 第82页 |
